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专利摘要

一种自动光学检测系统及其操作方法。
自动光学检测系统包括第一自动光学检测机器与第二自动光学检测机器,第二自动光学检测机器电性连接至第一自动光学检测机器。
第一自动光学检测机器使用第一解析度检测待测物,以检测待测物是否存在可能有缺陷的区域。
第二自动光学检测机器使用比第一自动光学检测机器的第一解析度高的第二解析度,仅在可能有缺陷的区域内进行检查,以检测待测物中可能有缺陷的区域内是否有任一缺陷。
综上所述,自动光学检测系统兼备“零脱逃”和“零误判”这两个标准,消除了人工验证的成本和不确定性。

专利状态

基础信息

专利号
CN201810211822.2
申请日
2018-03-15
公开日
2021-06-11
公开号
CN108627457B
主分类号
/B/B07/ 作业;运输
标准类别
将固体从固体中分离;分选
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
有效专利

发明人

温光溥 吴文明 黄俊彦

申请人

德律科技股份有限公司

申请人地址

中国台湾台北市士林区徳行西路45号7楼

专利摘要

一种自动光学检测系统及其操作方法。
自动光学检测系统包括第一自动光学检测机器与第二自动光学检测机器,第二自动光学检测机器电性连接至第一自动光学检测机器。
第一自动光学检测机器使用第一解析度检测待测物,以检测待测物是否存在可能有缺陷的区域。
第二自动光学检测机器使用比第一自动光学检测机器的第一解析度高的第二解析度,仅在可能有缺陷的区域内进行检查,以检测待测物中可能有缺陷的区域内是否有任一缺陷。
综上所述,自动光学检测系统兼备“零脱逃”和“零误判”这两个标准,消除了人工验证的成本和不确定性。

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