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专利摘要

本发明公开了一种半导体晶片光电化学机械抛光加工方法及其加工装置,晶片通过导电胶粘接固定在抛光头上,晶片再其下方通过导电滑环内外圈的导线连接外电源正极。
抛光垫粘贴在对电极盘底部,对电极盘固定在抛光盘底部且与抛光盘对应位置加工有通孔,对电极盘通过其上方的导电滑环内外圈导线连接外电源负极。
紫外光源发出的紫外光可以透过通孔照射到晶片表面,抛光液也可以喷射入通孔进入晶片与抛光垫的接触区。
本发明设计的光电化学机械抛光加工装置可较好地实现本发明中涉及的加工方法,加工装置具有操作简单,实现容易,工艺参数可灵活调节的优点,加工氮化镓晶片的实际加工中可取得去除速率快,加工后表面质量好的效果。

专利状态

基础信息

专利号
CN201811537196.2
申请日
2018-12-14
公开日
2019-03-15
公开号
CN109465739A
主分类号
/B/B24/ 作业;运输
标准类别
磨削;抛光
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
审查中-实审

发明人

康仁科 时康 董志刚 欧李苇 朱祥龙 周平

申请人

大连理工大学

申请人地址

116024 辽宁省大连市高新园区凌工路2号

专利摘要

本发明公开了一种半导体晶片光电化学机械抛光加工方法及其加工装置,晶片通过导电胶粘接固定在抛光头上,晶片再其下方通过导电滑环内外圈的导线连接外电源正极。
抛光垫粘贴在对电极盘底部,对电极盘固定在抛光盘底部且与抛光盘对应位置加工有通孔,对电极盘通过其上方的导电滑环内外圈导线连接外电源负极。
紫外光源发出的紫外光可以透过通孔照射到晶片表面,抛光液也可以喷射入通孔进入晶片与抛光垫的接触区。
本发明设计的光电化学机械抛光加工装置可较好地实现本发明中涉及的加工方法,加工装置具有操作简单,实现容易,工艺参数可灵活调节的优点,加工氮化镓晶片的实际加工中可取得去除速率快,加工后表面质量好的效果。

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