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专利摘要

提供一种SiC晶片的生成方法,其能够高效地将SiC晶片从单晶SiC晶锭剥离。
该SiC晶片的生成方法包括下述工序:剥离层形成工序,将对于单晶SiC具有透过性的波长的激光光线(LB)的聚光点(FP)定位在距离SiC晶锭(2)的第一面(4)(端面)相当于要生成的SiC晶片的厚度的深度,对SiC晶锭(2)照射激光光线(LB),形成剥离层(22),该剥离层(22)由SiC分离成Si和C的改质部(18)和从改质部(18)起在c面各向同性地形成的裂纹(20)构成;以及SiC晶片生成工序,将SiC晶锭(2)浸渍于液体(26)中,藉由液体(26)对SiC晶锭(2)赋予具有与SiC晶锭(2)的固有振动频率近似的频率以上的频率的超声波,由此以剥离层(22)为界面将SiC晶锭(2)的一部分剥离而生成SiC晶片(34)。

专利状态

基础信息

专利号
CN201711146070.8
申请日
2017-11-17
公开日
2021-06-11
公开号
CN108161215B
主分类号
/B/B28/ 作业;运输
标准类别
加工水泥、黏土或石料
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
有效专利

发明人

平田和也

申请人

株式会社迪思科

申请人地址

日本东京都

专利摘要

提供一种SiC晶片的生成方法,其能够高效地将SiC晶片从单晶SiC晶锭剥离。
该SiC晶片的生成方法包括下述工序:剥离层形成工序,将对于单晶SiC具有透过性的波长的激光光线(LB)的聚光点(FP)定位在距离SiC晶锭(2)的第一面(4)(端面)相当于要生成的SiC晶片的厚度的深度,对SiC晶锭(2)照射激光光线(LB),形成剥离层(22),该剥离层(22)由SiC分离成Si和C的改质部(18)和从改质部(18)起在c面各向同性地形成的裂纹(20)构成;以及SiC晶片生成工序,将SiC晶锭(2)浸渍于液体(26)中,藉由液体(26)对SiC晶锭(2)赋予具有与SiC晶锭(2)的固有振动频率近似的频率以上的频率的超声波,由此以剥离层(22)为界面将SiC晶锭(2)的一部分剥离而生成SiC晶片(34)。

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