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专利摘要

本发明公开了一种光学防伪元件及其制作方法,属于光学防伪技术领域。
所述光学防伪元件包括:起伏结构层,所述起伏结构层具有第一区域、第二区域和第三区域;所述第一区域具有第一微结构;所述第二区域具有第二微结构;所述第三区域为无结构的平坦区域;所述第二微结构的比体积大于所述第一微结构的比体积;所述第一区域和所述第三区域均具有重叠的反射层、介电层和吸收层,且所述第二区域不具有反射层;位于所述第一区域的介电层远离起伏结构层一侧的表面形貌与起伏结构层的表面形貌明显不同。
光学防伪元件一侧反射观察时,第一区域具有较弱的或者不具有干涉光变效果,第三区域具有明显的干涉光变效果,透视观察时,第二区域具有镂空效果。

专利状态

基础信息

专利号
CN201910251304.8
申请日
2019-03-29
公开日
2021-06-15
公开号
CN111746171B
主分类号
/B/B42/ 作业;运输
标准类别
装订;图册;文件夹;特种印刷品
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
有效专利

发明人

胡春华 朱军 张巍巍 孙凯

申请人

中钞特种防伪科技有限公司 中国印钞造币总公司

申请人地址

100070 北京市丰台区科学城星火路6号

专利摘要

本发明公开了一种光学防伪元件及其制作方法,属于光学防伪技术领域。
所述光学防伪元件包括:起伏结构层,所述起伏结构层具有第一区域、第二区域和第三区域;所述第一区域具有第一微结构;所述第二区域具有第二微结构;所述第三区域为无结构的平坦区域;所述第二微结构的比体积大于所述第一微结构的比体积;所述第一区域和所述第三区域均具有重叠的反射层、介电层和吸收层,且所述第二区域不具有反射层;位于所述第一区域的介电层远离起伏结构层一侧的表面形貌与起伏结构层的表面形貌明显不同。
光学防伪元件一侧反射观察时,第一区域具有较弱的或者不具有干涉光变效果,第三区域具有明显的干涉光变效果,透视观察时,第二区域具有镂空效果。

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