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专利摘要

本公开提供了一种光学防伪元件、光学防伪产品以及光学防伪元件检测方法,涉及光学防伪技术领域,光学防伪元件包括:基材、第一滤光层和发光层;发光层设置在基材和第一滤光层的上方,或者包含在基材内部,形成一体结构;第一滤光层设置在基材下表面或位于基材和发光层之间;第一滤光层允许具有检测波段的波长的第一光线通过;发光层在受到第一光线激发时,向发光层的上方发射出发射光;检测光源包括:光强高于特定值I的日光光源、白光光源、紫外光光源、蓝光光源等。
本公开的元件、产品以及检测方法,可以利用多种常用的光源识别光学防伪元件的真伪,可方便借助周围的光源进行检测,提高了伪造门槛,安全性得到了提升。

专利状态

基础信息

专利号
CN201911309496.X
申请日
2019-12-18
公开日
2020-03-31
公开号
CN110936751A
主分类号
/B/B42/ 作业;运输
标准类别
装订;图册;文件夹;特种印刷品
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
审查中-实审

发明人

刘萃 柯光明 叶蕾 王斌 董亚鲁 陈韦 杨素华 黄小义

申请人

中国人民银行印制科学技术研究所 中国印钞造币总公司

申请人地址

100070 北京市丰台区科学城中核路5号

专利摘要

本公开提供了一种光学防伪元件、光学防伪产品以及光学防伪元件检测方法,涉及光学防伪技术领域,光学防伪元件包括:基材、第一滤光层和发光层;发光层设置在基材和第一滤光层的上方,或者包含在基材内部,形成一体结构;第一滤光层设置在基材下表面或位于基材和发光层之间;第一滤光层允许具有检测波段的波长的第一光线通过;发光层在受到第一光线激发时,向发光层的上方发射出发射光;检测光源包括:光强高于特定值I的日光光源、白光光源、紫外光光源、蓝光光源等。
本公开的元件、产品以及检测方法,可以利用多种常用的光源识别光学防伪元件的真伪,可方便借助周围的光源进行检测,提高了伪造门槛,安全性得到了提升。

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