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专利摘要

一种短周期批产化卫星的测试方法。
本申请涉及一种批产化卫星的测试方法,其为批产化卫星综合测试项目中的桌面联试阶段的主要测试内容,且包括卫星接口测试和卫星功能及性能测试;其中所述卫星接口测试方法为卫星接口测试内容在批产化卫星同一批次的每颗星上的遍历测试;其中所述卫星功能及性能测试方法包括1)与硬件相关的功能和性能测试,和2)与软件相关的功能测试;其中所述与硬件相关的功能和性能测试采取在批产化卫星同一批次的每颗星上的遍历测试;以及其中所述与软件相关的功能测试考核的是星载软件,且又分成几个测试项目,分别在批产化卫星同一批次的每颗星上测试一部分,最终保证批产化卫星同一批次所有星上的测试内容覆盖全部测试项目。

专利状态

基础信息

专利号
CN201810946125.1
申请日
2018-08-20
公开日
2019-01-25
公开号
CN109270366A
主分类号
/B/B64/ 作业;运输
标准类别
飞行器;航空;宇宙航行
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
审查中-实审

发明人

陈博 梁旭文 汪灏 闫梅 张芮 刘阔 丰正功 曹彩霞 李静

申请人

上海微小卫星工程中心

申请人地址

201203 上海市浦东新区海科路99号4号楼

专利摘要

一种短周期批产化卫星的测试方法。
本申请涉及一种批产化卫星的测试方法,其为批产化卫星综合测试项目中的桌面联试阶段的主要测试内容,且包括卫星接口测试和卫星功能及性能测试;其中所述卫星接口测试方法为卫星接口测试内容在批产化卫星同一批次的每颗星上的遍历测试;其中所述卫星功能及性能测试方法包括1)与硬件相关的功能和性能测试,和2)与软件相关的功能测试;其中所述与硬件相关的功能和性能测试采取在批产化卫星同一批次的每颗星上的遍历测试;以及其中所述与软件相关的功能测试考核的是星载软件,且又分成几个测试项目,分别在批产化卫星同一批次的每颗星上测试一部分,最终保证批产化卫星同一批次所有星上的测试内容覆盖全部测试项目。

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