1.本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种液晶面板显示不良分析方法及分析系统。


背景技术：

2.液晶面板是液晶显示器的重要组件，液晶面板的质量优劣直接关系到液晶显示器的整体性能。
3.在液晶面板的制备过程中，包括多个成型工艺，例如，阵列制程、彩膜制程、成盒制程及模组组装制程，任一工艺制程或者设计方面的不规范均可能导致液晶面板出现点不良、线不良或者显示亮度不均匀等显示不良问题。图1为现有的一种显示不良现象的示意图。如图1所示，在液晶面板00的显示画面中，出现沿垂直方向y延伸的垂直暗线，垂直暗线可沿垂直方向贯穿显示画面的贯穿暗线a＇，或者，沿垂直方向y出现部分暗线a＂。
4.为了降低上述显示不良问题对液晶显示器的影响，需要对制备完成的液晶面板进行检测，查找并解决引起显示不良的问题。在现有技术中，显示不良解析通常由检测人员在点屏后对不良位置进行识别和标记，再通过高倍率显微镜进行不良确认。现有技术存在以下缺陷：人工操作缺乏有效的不良成因分析技术，导致单个面板的不良解析时间较长，效率较低，此外，人为标记位置的准确度较低，影响不良成因的解析结果，且通过高倍率光学显微镜无法分析所有工艺制程中的缺陷，例如，通过人为观察难以识别模组内电路缺陷，造成不良解析失败或者解析结果不准确。


技术实现要素：

5.本发明的目的在于：提供一种液晶面板显示不良分析方法及分析系统，能够快速区分显示不良类型，并根据不良类型执行相应的不良分析策略，快速查找显示不良的成因，减少显示不良解析失败的概率。
6.为达上述目的，本发明采用以下技术方案：
7.第一方面，提供一种液晶面板显示不良分析方法，包括：
8.获取不良面板，所述不良面板为具有预设显示不良现象的面板；
9.对所述不良面板进行坐标检测，根据坐标检测结果确定不良位置参数；
10.对所述不良面板施加至少一组预设补偿数据，得到至少一个显示画面，所述显示画面包括补偿显示画面及非补偿显示画面；
11.基于所述显示画面对所述不良面板进行预设显示不良现象检测，确定不良检测结果；
12.根据所述显示画面对应的补偿数据及所述不良位置参数确定显示画面仿真数据；
13.根据所述不良检测结果及所述显示画面仿真数据确定显示不良分析策略。
14.作为显示不良分析方法的一种优选方案，所述显示不良分析策略包括对所述不良面板进行透湿异常分析及对所述不良面板进行显示屏模组异常分析。
15.作为显示不良分析方法的一种优选方案，对所述不良面板进行透湿异常分析，包括以下步骤：对所述不良面板进行烘干处理；获取烘干处理后所述不良面板的第一显示画面；基于所述第一显示画面对所述不良面板进行预设显示不良现象检测，确定第一不良检测结果；根据所述第一显示画面对应的补偿数据及所述不良位置参数确定第一仿真数据；根据所述第一不良检测结果及所述第一仿真数据判断不良成因是否为水汽侵入。
16.作为显示不良分析方法的一种优选方案，在得到第一不良检测结果之后，还包括：对所述不良面板施加主动补偿数据，所述主动补偿数据根据灰度补偿数据与补偿数据阈值之差确定；基于主动补偿后的显示画面对所述不良面板进行预设显示不良现象检测，确定第二不良检测结果；根据所述第一不良检测结果、所述第二不良检测结果及所述第一仿真数据判断不良成因是否为水汽侵入。
17.作为显示不良分析方法的一种优选方案，对所述不良面板进行显示屏模组异常分析，包括以下步骤：获取所述不良面板的第一光学图像；基于所述第一光学图像判断是否存在第一特征缺陷；根据工程履历，对工艺及设备进行异常分析，确定不良成因，所述工程履历为所述不良面板的制备工艺过程的记录。
18.作为显示不良分析方法的一种优选方案，对所述不良面板进行显示屏模组异常分析，还包括：去除所述不良面板的封装盖板，获取位于所述封装盖板下方的至少一个电路基板；获取所述电路基板的第二光学图像；基于所述第二光学图像获取第二特征缺陷；对所述第二特征缺陷进行缺陷分析，根据缺陷分析结果确定不良成因。
19.作为显示不良分析方法的一种优选方案，对第二特征缺陷进行缺陷分析，包括：对所述电路基板上的金属走线及电路元件的电气参数进行测试，根据测试结果判断不良成因是否为走线或者元件异常；其中，所述电气参数包括下述至少一项：电阻值和电压值。
20.作为显示不良分析方法的一种优选方案，对第二特征缺陷进行缺陷分析，还包括：采用预设失效分析工具对基板异物进行断面或者成分分析，根据异物分析结果判断不良成因是否为异物。
21.作为显示不良分析方法的一种优选方案，根据所述不良检测结果及所述显示画面仿真数据确定显示不良分析策略，包括以下步骤：获取原始补偿数据和主动补偿数据；根据原始补偿数据确定第一显示画面仿真数据；根据主动补偿数据确定第二显示画面仿真数据；根据所述第一显示画面仿真数据、所述第二显示画面仿真数据及所述不良检测结果确定显示不良分析策略。
22.作为显示不良分析方法的一种优选方案，所述预设显示不良现象为垂直线不良。
23.第二方面，提供一种液晶面板显示不良分析系统，使用上述显示不良分析方法，所述系统包括：
24.信赖性检测模块，用于获取不良面板，所述不良面板为具有预设显示不良现象的面板；
25.不良位置获取模块，用于对所述不良面板进行坐标检测，根据坐标检测结果确定不良位置参数；
26.补偿模块，用于对所述不良面板施加至少一组预设补偿数据，得到至少一个显示画面，所述显示画面包括补偿显示画面及非补偿显示画面；
27.不良现象检测模块，用于基于所述显示画面对所述不良面板进行预设显示不良现
象检测，确定不良检测结果；
28.仿真模块，根据所述显示画面对应的补偿数据及所述不良位置参数确定显示画面仿真数据；
29.不良分析模块，用于根据所述不良检测结果及所述显示画面仿真数据确定显示不良分析策略，所述显示不良分析策略包括对所述不良面板进行透湿异常分析及对所述不良面板进行显示屏模组异常分析。
30.本发明的有益效果为：通过对不良面板施加至少一组预设补偿数据，得到不良面板的补偿显示画面及非补偿显示画面，通过不同显示画面的补偿数据及不良位置参数确定显示画面仿真数据，根据补偿显示画面和非补偿显示画面的不良现象检测结果及显示画面仿真数据确定显示不良类型，对不同的显示不良类型执行特定的显示不良分析策略，有利于快速查找显示不良的成因，减少显示不良解析失败的概率，提高显示不良解析效率，从根本上解决面板显示不良的问题，提高良品率，避免浪费。
附图说明
31.下面根据附图和实施例对本发明作进一步详细说明。
32.图1为现有的一种显示不良现象的示意图。
33.图2为本发明第一实施例的一种液晶面板显示不良分析方法的流程图。
34.图3为本发明第二实施例的一种液晶面板显示不良分析方法的流程图。
35.图4为本发明第三实施例的一种液晶面板显示不良分析方法的流程图。
36.图5为本发明第四实施例的一种液晶面板显示不良分析方法的流程图。
37.图6为本发明第五实施例的一种液晶面板显示不良分析方法的流程图。
38.图7为本发明第六实施例的一种液晶面板显示不良分析方法的流程图。
39.图8为本发明第七实施例的一种液晶面板显示不良分析系统的结构示意图。
40.图1中：
41.00、液晶面板；a＇、贯穿暗线；a＂、部分暗线。
42.图8中：
43.100、显示不良分析系统；101、信赖性检测模块；102、不良位置获取模块；
44.103、补偿模块；104、不良现象检测模块；105、仿真模块；106、不良分析模块。
具体实施方式
45.参考下面结合附图详细描述的实施例，本发明的优点和特征以及实现它们的方法将变得显而易见。然而，本发明不限于以下公开的实施例，而是可以以各种不同的形式来实现，提供本实施例仅仅是为了完成本发明的公开并且使本领域技术人员充分地了解本发明的范围，并且本发明仅由权利要求的范围限定。相同的附图标记在整个说明书中表示相同的构成要素。
46.以下，参照附图来详细描述本发明。
47.图2为本发明第一实施例的一种液晶面板显示不良分析方法的流程图。
48.如图2所示，该液晶面板显示不良分析方法具体包括以下步骤：
49.步骤s1：获取不良面板，不良面板为具有预设显示不良现象的面板。
50.本实施例中，预设显示不良现象可为垂直线不良，该垂直线不良可为沿图1中垂直方向y贯穿显示画面的贯穿暗线，或者为部分暗线，显示画面中垂直线不良的数量可为一个或者多个，对此不作限制。
51.本实施例中，可对制备完成的液晶面板进行点屏测试(即给液晶盒提供显示信号)，通过观察筛选出产生垂直线不良的液晶面板，作为后续异常分析的不良面板。在点屏测试过程中，可驱动液晶面板显示白色画面，便于识别显示不良现象。
52.进一步地，可在信赖性测试环境下对制备完成的液晶面板进行点屏测试，其中，信赖性测试环境为环境温度大于或者等于预设温度阈值(例如预设温度阈值可为60℃)，环境湿度大于或者等于预设湿度阈值(例如预设湿度阈值可为50％)。
53.步骤s2：对不良面板进行坐标检测，根据坐标检测结果确定不良位置参数。
54.本实施例中，可不良面板显示画面中的垂直线上的任一点进行坐标检测，或者对垂直线不良对应的数据线进行坐标检测，根据坐标检测结果确定显示异常位置。
55.步骤s3：对不良面板施加至少一组预设补偿数据，得到至少一个显示画面，至少一个显示画面包括补偿显示画面及非补偿显示画面。
56.其中，预设补偿数据包括施加到液晶面板有机发光单元的驱动补偿电压和驱动补偿电流，及控制器提供的主动补偿电压及主动补偿电流，主动补偿电压和主动补偿电流用于修复长时间静态画面后出现的残影，通过调节补偿数据的数值大小，可得到具有不同显示灰度值的显示画面。
57.本实施例中，若对有机发光单元施加主动补偿电压和主动补偿电流，则得到的显示画面为补偿显示画面；若去除施加到有机发光单元的主动补偿电压和主动补偿电流，则得到的显示画面为非补偿显示画面。
58.步骤s4：基于显示画面对不良面板进行预设显示不良现象检测，确定不良检测结果。
59.其中，不良检测结果包括显示画面中存在预设显示不良现象或者显示画面中不存在预设显示不良现象。
60.本实施例中，可通过人为观察或者图像检测技术手段对显示画面进行预设显示不良现象检测，对此不作限制。
61.进一步地，在对显示画面进行预设显示不良现象检测之时，可调整不良面板的显示画面维持在单一色彩，该色彩可为红色、绿色、蓝色或者灰色中的任一种，对单一色彩的显示画面中的垂直线不良现象进行检测，通过获取显示画面中垂直线上任一点的x坐标或者与垂直线对应的数据线上任一点的x坐标，可得到每个显示画面对应的不良位置参数。
62.步骤s5：根据显示画面对应的补偿数据及不良位置参数确定显示画面仿真数据。
63.其中，补偿数据包括液晶面板在任一显示画面下，施加在有机发光单元的驱动电压、驱动电流、补偿电压和补偿电流等参数，不良位置参数包括显示画面中暗线的x坐标参数，暗线包括贯穿暗线和部分暗线。显示画面仿真数据为根据导出的补偿数据和不良位置参数得到的仿真图像。
64.本实施例中，可采用测试工具从面板导出每个显示画面对应的补偿数据及不良位置参数，并根据补偿数据和不良位置参数得到仿真图像。
65.步骤s6：根据不良检测结果及显示画面仿真数据确定显示不良分析策略。
66.一实施例中，显示不良分析策略包括对不良面板进行透湿异常分析及对不良面板进行显示屏模组异常分析。其中，透湿异常分析为对显示面板的防水透湿性能进行测试，判断显示不良的成因是否为面板水汽；显示屏模组包括但不限于：封装盖板，位于封装盖板下方的电路基板及布置于电路基板上的金属走线和电路元件，显示屏模组异常分析为对显示屏模组的各组成结构进行异常测试，判断显示不良的成因是否为显示屏模组异常。
67.具体而言，以预设显示不良现象为垂直线不良为例，在液晶面板制备完成后，对液晶面板进行信赖性测试，筛选出测试过程中垂直线不良现象的不良面板。在得到不良面板后，对不良面板的有机发光单元施加预设补偿数据，通过调节补偿数据的数值大小，得到不同灰度值的显示画面，对每个灰度值下的显示画面进行垂直线不良现象检查，若存在垂直线不良现象，则通过检测显示画面中垂直线上任一点的坐标，或者检测垂直线不良对应的数据线的坐标，确定每个显示画面对应的不良位置参数。进而，根据补偿数据和不良位置参数得到显示画面仿真数据即仿真图像。结合补偿显示画面的不良检测结果、非补偿显示画面的不良检测结果及不同显示画面对应的显示画面仿真数据，确定显示不良类型，根据不良类型确定对应的显示不良分析策略，通过透湿异常分析判断显示不良的成因是否为水汽；通过显示屏模组异常分析判断显示不良的成因是否为显示屏模组异常，通过对不同的显示不良类型执行特定的显示不良分析策略，有利于快速查找显示不良的成因，减少显示不良解析失败的概率，提高显示不良解析效率，从根本上解决面板显示不良的问题，提高良品率，避免浪费。
68.图3为本发明第二实施例的一种液晶面板显示不良分析方法的流程图。本实施例中，在图2的基础上，示出了一种显示不良分析策略的具体实施方式。
69.如图3所示，根据不良检测结果及显示画面仿真数据确定显示不良分析策略，包括以下步骤：
70.步骤s601：获取原始补偿数据和主动补偿数据。
71.其中，主动补偿数据可为面板开机工作一段时间后，控制器根据补偿数据与补偿数据阈值之差确定，用于消除有机发光单元出现的残影，以使有机发光单元的状态达到标准出厂状态；原始补偿数据为面板出厂时存储在闪存单元中，用于消除显示不均匀现象的补偿电压和补偿电流，典型地，原始补偿数据包括α补偿数据(即电流补偿数据)和π补偿数据(即电压补偿数据)。
72.步骤s602：根据原始补偿数据确定第一显示画面仿真数据。
73.步骤s603：根据主动补偿数据确定第二显示画面仿真数据。
74.步骤s604：根据第一显示画面仿真数据、第二显示画面仿真数据及不良检测结果确定显示不良分析策略。
75.具体而言，若补偿显示画面、非补偿显示画面、第二显示画面仿真数据及第一显示画面仿真数据均存在预设显示不良现象，则判定不良类型可能为显示屏模组异常，对不良面板进行显示屏模组异常分析；若非补偿显示画面和第一显示画面仿真数据不存在预设显示不良现象，且补偿显示画面和第二显示画面仿真数据存在预设显示不良现象，则判定不良类型可能为水汽侵入，对不良面板进行透湿异常分析。通过对仿真画面和测试画面进行显示不良现象检查，实现冗余测试，有利于提高不良现象检测准确率，避免误检或者漏检。
76.图4为本发明第三实施例的一种液晶面板显示不良分析方法的流程图。本实施例
中，示出了一种透湿异常分析的具体实施方式。
77.如图4所示，对不良面板进行透湿异常分析，包括以下步骤：
78.步骤s6051：对不良面板进行烘干处理。
79.本实施例中，对不良面板进行烘干处理，包括：将不良面板放置在预设烘干温度的试验室，经过预设时间后，取出不良面板。示例性地，预设烘干温度可设置为60℃；预设时间可设置为24小时。
80.步骤s6052：获取烘干处理后不良面板的第一显示画面。
81.其中，第一显示画面为烘干处理后，驱动不良面板运行呈现的显示画面。
82.本实施例中，可采用上述步骤s3记载的方法对不良面板提供补偿数据，驱动不良面板运行，得到第一显示画面。
83.步骤s6053：基于第一显示画面对不良面板进行预设显示不良现象检测，确定第一不良检测结果。
84.本实施例中，第一不良检测结果包括预设显示不良现象与烘干处理前一致，或者，与烘干处理前相比，预设显示不良现象减少或消失。
85.步骤s6054：根据第一显示画面对应的补偿数据及不良位置参数确定第一仿真数据。
86.步骤s6055：根据第一不良检测结果及第一仿真数据判断不良成因是否为水汽侵入。
87.具体而言，在判断不良类型可能为水汽之后，将不良面板放置于预设烘干温度的试验室，对不良面板进行烘干处理。在烘干程序执行完毕之后，对烘干完成的不良面板施加预设补偿数据，得到烘干处理后的第一显示画面，同时导出第一显示画面的补偿数据和垂直线不良位置参数，测试工具根据导出的补偿数据和不良位置参数生成第一仿真数据，对烘干处理后的第一仿真数据与烘干处理前的仿真数据进行比对，若烘干处理后，预设显示不良现象与烘干处理前一致，则判定显示不良的成因不是水汽侵入；若烘干处理后，第一显示画面中的预设显示不良现象减少或者消失，则判定显示不良的成因是水汽侵入。通过透湿异常分析排除水汽侵入导致的显示不良，通过对水汽侵入进行溯源分析，可从根本上解决水汽侵入引起的面板显示不良问题，有利于提高良品率。
88.图5为本发明第四实施例的一种液晶面板显示不良分析方法的流程图。本实施例中，示出了另一种透湿异常分析的具体实施方式。
89.如图5所示，该对不良面板进行透湿异常分析的方法具体包括：
90.步骤s6051：对不良面板进行烘干处理。
91.步骤s6052：获取烘干处理后不良面板的第一显示画面。
92.步骤s6053：基于第一显示画面对不良面板进行预设显示不良现象检测，确定第一不良检测结果。
93.步骤s6056：对不良面板施加主动补偿数据，其中，主动补偿数据根据灰度补偿数据与补偿数据阈值之差确定。
94.步骤s6057：基于主动补偿后的显示画面对不良面板进行预设显示不良现象检测，确定第二不良检测结果。其中，第二不良检测结果包括主动补偿后，预设显示不良现象与烘干处理前一致，或者，与烘干处理前相比，预设显示不良现象减少或消失。
95.步骤s6058：根据第一不良检测结果、第二不良检测结果及第一仿真数据判断不良成因是否为水汽侵入。
96.具体而言，与图4所示的实施例相比，在得到第一不良检测结果之后，本实施例对烘干处理后的面板施加主动补偿数据，通过对主动补偿后的显示画面进行预设显示不良现象检测，得到第二不良检测结果。若第一不良检测结果、第二不良检测结果及第一仿真数据中的预设显示不良现象均减少或者消失，则判定显示不良的成因是水汽侵入；若第一不良检测结果、第二不良检测结果及第一仿真数据中的预设显示不良现象，与烘干处理前一致，则判定显示不良的成因不是水汽侵入，执行后续显示不良分析策略。通过对烘干处理后的面板施加主动补偿数据，消除面板长时间显示静态画面出现的残影，避免残影造成误检。
97.图6为本发明第五实施例的一种液晶面板显示不良分析方法的流程图。本实施例中，示出了一种显示屏模组异常分析的具体实施方式。
98.如图6所示，对不良面板进行显示屏模组异常分析，包括以下步骤：
99.步骤s6061：获取不良面板的第一光学图像。
100.本实施例中，第一光学图像可为在第一放大倍率的光学显微镜下获得的光学图像。优选地，第一放大倍率可为20倍。
101.一实施例中，在获取第一光学图像之前，可先取出不良面板的偏光片，并对不良位置进行标记，有利于提高不良定位精度，提高检测效率。
102.步骤s6062：判断第一光学图像是否存在第一特征缺陷。
103.若存在第一特征缺陷，则执行步骤s6063；若不存在第一特征缺陷，则执行步骤s6064。
104.其中，第一特征缺陷可为通过光学显微镜直接确定特征类型的缺陷，典型地，第一特征缺陷可包括但不限于：异物、气泡或者修理痕迹。
105.本实施例中，可采用第一放大倍率的光学显微镜对不良面板进行采样，得到第一光学图像，通过对第一光学图像进行观察或者检测可得到第一特征缺陷及第一特征缺陷所在的位置。
106.步骤s6063：根据第一特征缺陷确定引起预设显示不良现象的具体位置。
107.步骤s6064：根据工程履历，对工艺及设备进行异常分析，确定不良成因。
108.其中，工程履历为不良面板的制备工艺过程的记录。典型地，制备工艺过程的记录包括但不限于：面板使用的制备工艺和制备设备，结合第一特征缺陷的类型及位置对工程履历进行分析，判断工艺或者设备是否存在异常。
109.具体而言，若判定显示不良的成因不是水汽侵入，或者，判定不良类型可能为显示屏模组异常，则对不良面板进行显示屏模组异常分析。首先，去除不良面板的偏光片，并对显示不良位置进行标记，采用光学显微镜观察不良面板是否存在异物、气泡或者修理痕迹等第一特征缺陷。若存在第一特征缺陷，则根据第一特征缺陷确定引起垂直线不良的具体位置；若不存在第一特征缺陷，则根据工程履历对不良面板的制备工艺及制备设备差异进行分析，根据分析确定出现不良面板的号机，或者，确定不良面板制备工艺中是否存在操作不当的工序，从而确定引起面板显示不良的成因。
110.进一步地，若对工程履历进行溯源后未查找到引起面板显示不良的成因，则判定不良分析失败；若对工程履历进行溯源后查找到引起面板显示不良的成因，可对同时期量
产的面板进行预设显示不良现象检测，判断不良面板的发生率，并对不良面板发生率高的号机及工艺进行差异化排查。通过对工程履历进行溯源，可以准确查找显示不良的成因，从根本上解决面板显示不良的问题，提高良品率，避免浪费。
111.图7为本发明第六实施例的一种液晶面板显示不良分析方法的流程图。本实施例中，示出了另一种显示屏模组异常分析的具体实施方式。
112.如图7所示，在判断存在第一特征缺陷之后，该对不良面板进行显示屏模组异常分析的方法还包括：
113.步骤s6065：去除不良面板的封装盖板，获取位于封装盖板下方的至少一个电路基板。
114.在一实施例中，封装盖板下方的电路基板包括但不限于：tft基板和铝塑衬板。
115.步骤s6066：获取电路基板的第二光学图像。
116.本实施例中，第二光学图像可为在第二放大倍率的光学显微镜下获得的光学图像。优选地，第二放大倍率可大于或者等于20倍，有利于通过提高放大效果，避免特征缺陷漏检。
117.步骤s6067：基于第二光学图像获取第二特征缺陷。
118.其中，第二特征缺陷可为电路基板异常导致的特征缺陷，典型地，第二特征缺陷包括但不限于：金属走线异常、电路元件异常及基板异物。其中，金属走线异常可为tft基板的金属走线长度或者宽度异常；电路元件异常可为tft元件异常。
119.步骤s6068：对第二特征缺陷进行缺陷分析，根据缺陷分析结果确定不良成因。
120.一实施例中，对第二特征缺陷进行缺陷分析，包括：对电路基板上的金属走线及电路元件的电气参数进行测试，根据测试结果判断不良成因是否为走线或者元件异常；其中，电气参数包括下述至少一项：电阻值和电压值。
121.本实施例中，对电路基板上的金属走线及电路元件的电气参数进行测试，包括：分别测定正常显示画面和线不良位置对应的走线及电路元件的电气参数，通过两者参数比较确定是否发生走线或者元件异常。
122.一实施例中，对第二特征缺陷进行缺陷分析，还包括：采用预设失效分析工具对基板异物进行断面或者成分分析，根据异物分析结果判断不良成因是否为异物；或者，通过比对正常显示画面和线不良位置对应的基板状态，判断不良成因是否为异物。
123.示例性地，预设失效分析工具包括但不限于：fib(focused ion beam，聚焦离子束系统)或者eds(energy dispersive spectrometer，能谱仪)中的任一种或者多种组合。
124.具体而言，在获得第一特征缺陷之后，去除不良面板的封装盖板，采用光学显微镜观察封装盖板下方的电路基板，获取第二特征缺陷之后，根据第二特征缺陷的具体类型执行不同的分析方法，查找产生特征缺陷的根本原因，有利于从根本上解决面板显示不良的问题，提高良品率，避免浪费。
125.基于上述任一实施例，本发明还提供一种液晶面板显示异常分析系统，该异常分析系统用于执行上述任一实施例提供的显示异常分析方法，具备执行方法相应的功能模块和有益效果。
126.图8为本发明第八实施例的一种液晶面板显示不良分析系统的结构示意图。
127.如图8所示，该显示不良分析系统100包括：信赖性检测模块101、不良位置获取模
块102、补偿模块103、不良现象检测模块104、仿真模块105及不良分析模块106。
128.其中，信赖性检测模块101，用于获取不良面板，不良面板为具有预设显示不良现象的面板，其中，预设显示不良现象可为垂直线不良现象。不良位置获取模块102，用于对不良面板进行坐标检测，根据坐标检测结果确定不良位置参数。补偿模块103，用于对不良面板施加至少一组预设补偿数据，得到至少一个显示画面，至少一个显示画面包括补偿显示画面及非补偿显示画面。不良现象检测模块104，用于对显示画面进行预设显示不良现象检测，确定不良检测结果。仿真模块105，用于根据显示画面对应的补偿数据及不良位置参数确定显示画面仿真数据。不良分析模块106，用于根据不良检测结果及显示画面仿真数据确定显示不良分析策略。
129.一实施例中，显示不良分析策略包括对不良面板进行透湿异常分析及对不良面板进行显示屏模组异常分析。
130.一实施例中，对不良面板进行透湿异常分析，包括：对不良面板进行烘干处理；获取烘干处理后不良面板的第一显示画面；对第一显示画面进行预设显示不良现象检测，确定第一不良检测结果；根据第一显示画面对应的补偿数据及不良位置参数确定第一仿真数据；根据第一不良检测结果及第一仿真数据判断不良成因是否为水汽侵入。
131.一实施例中，在得到第一不良检测结果之后，还包括：对不良面板施加主动补偿数据，主动补偿数据根据灰度补偿数据与补偿数据阈值之差确定；对主动补偿后的显示画面进行预设显示不良现象检测，确定第二不良检测结果；根据第一不良检测结果、第二不良检测结果及第一仿真数据判断不良成因是否为水汽侵入。
132.一实施例中，对不良面板进行显示屏模组异常分析，包括：获取不良面板的第一光学图像；基于第一光学图像判断是否存在第一特征缺陷；根据工程履历，对工艺及设备进行异常分析，确定不良成因，工程履历为不良面板的制备工艺过程的记录。
133.一实施例中，对不良面板进行显示屏模组异常分析，还包括：去除不良面板的封装盖板，获取位于封装盖板下方的至少一个电路基板；获取电路基板的第二光学图像；基于第二光学图像获取第二特征缺陷；对第二特征缺陷进行缺陷分析，根据缺陷分析结果确定不良成因。
134.一实施例中，对第二特征缺陷进行缺陷分析，包括：对电路基板上的金属走线及电路元件的电气参数进行测试，根据测试结果判断不良成因是否为走线或者元件异常；其中，电气参数包括下述至少一项：电阻值和电压值。
135.一实施例中，对第二特征缺陷进行缺陷分析，还包括：采用预设失效分析工具对基板异物进行断面或者成分分析，根据异物分析结果判断不良成因是否为异物。
136.一实施例中，根据不良检测结果及显示画面仿真数据确定显示不良分析策略，包括：获取原始补偿数据和主动补偿数据；根据原始补偿数据确定第一显示画面仿真数据；根据主动补偿数据确定第二显示画面仿真数据；根据第一显示画面仿真数据、第二显示画面仿真数据及不良检测结果确定显示不良分析策略。
137.一实施例中，预设显示不良现象为垂直线不良。
138.综上，本发明的显示不良分析方法和分析系统，通过对不良面板施加至少一组预设补偿数据，得到不良面板的补偿显示画面及非补偿显示画面，通过不同显示画面的补偿数据及不良位置参数确定显示画面仿真数据，根据补偿显示画面和非补偿显示画面的不良
现象检测结果及显示画面仿真数据确定显示不良类型，对不同的显示不良类型执行特定的显示不良分析策略，有利于快速查找显示不良的成因，减少显示不良解析失败的概率，提高显示不良解析效率，从根本上解决面板显示不良的问题，提高良品率，避免浪费。
139.尽管上面已经参考附图描述了本发明的实施例，但是本发明不限于以上实施例，而是可以以各种形式制造，并且本领域技术人员将理解，在不改变本发明的技术精神或基本特征的情况下，可以以其他特定形式来实施本发明。因此，应该理解，上述实施例在所有方面都是示例性的而不是限制性的。