1.本技术涉及显示领域，具体涉及一种显示面板的补偿方法及补偿装置。


背景技术：

2.与液晶显示器(liquid crystal display，简称lcd)利用稳定的电压控制亮度不同，有机发光二极管(organic light-emitting diode，简称oled)属于电流驱动，需要稳定的电流来控制器发光。一般oled显示器通过每个像素中的像素驱动电路中的驱动晶体管向oled输出电流，以驱动oled发光。由于oled显示器中的驱动晶体管的电学特性不一致，因此，像素单元之间存在亮度差异。为了保证因驱动晶体管的电学特性不一致造成的亮度不一致性的技术问题，现有技术提出了外部补偿方式，通过对每个子像素对应的驱动晶体管的阈值电压进行补偿，生成校正后的驱动电压，以保证oled显示器所显示内容的一致性。
3.为减少线路密度，多个发光颜色不同的子像素共用一组侦测补偿线路。当某个子像素因薄膜晶体管制程或有机发光层制程产生缺陷时，会影响共用侦测线路的周边子像素的阈值电压的侦测，导致周边像素经过模组侦测补偿后会变成亮点或者暗点，从而形成亮暗连接的点缺陷，超过客户接受标准，必须进行镭射修补后再次补偿，非常浪费模组修补及补偿产能，影响模组直通率。
4.因此，亟需一种显示面板的补偿方法及补偿装置以解决上述技术问题。


技术实现要素：

5.本技术实施例提供一种显示面板的补偿方法及补偿装置，可以改善当前显示面板在电压侦测补偿阶段形成亮暗连接的点缺陷的技术问题。
6.本技术实施例提供一种显示面板的补偿方法，包括：
7.获取目标显示面板中第一子像素的位置信息，所述第一子像素为待补偿子像素；
8.当所述第一子像素的位置信息和所述目标显示面板中异常子像素的位置信息匹配时，获取与所述第一子像素对应的第二子像素的位置信息，所述第二子像素与所述第一子像素位于同一像素单元内；
9.根据所述第二子像素的位置信息，获取与所述第二子像素对应的第三子像素的位置信息，所述第三子像素与所述第二子像素的相邻设置且发光颜色相同；
10.将所述第三子像素的补偿参数设定为所述第二子像素的补偿参数。
11.可选的，在本技术的一些实施例中，所述获取目标显示面板中第一子像素的位置信息的步骤还包括：
12.扫描所述目标显示面板；
13.获取所述目标显示面板中第一子像素的像素坐标，以得到所述目标显示面板中第一子像素的位置信息。
14.可选的，在本技术的一些实施例中，获取所述目标显示面板中异常子像素的位置信息的步骤包括：
15.对所述目标显示面板进行点灯检测；
16.确定所述目标显示面板在显示异常时对应的异常子像素的位置信息；
17.将所述异常子像素的位置信息存储至补偿装置中。
18.可选的，在本技术的一些实施例中，当所述第一子像素的位置信息和所述目标显示面板中异常子像素的位置信息不匹配时，对所述第一子像素的像素电压进行补偿。
19.可选的，在本技术的一些实施例中，所述将所述第三子像素的补偿参数设定为所述第二子像素的补偿参数的步骤包括：
20.通过像素驱动电路对所述第三子像素的像素电压进行补偿，得到所述第三子像素的补偿参数；
21.将所述第三子像素的补偿参数设定为所述第二子像素的补偿参数。
22.可选的，在本技术的一些实施例中，每一个所述像素驱动电路对应一个所述子像素，所述像素驱动电路还包括一个感应薄膜晶体管；
23.其中，在同一所述像素单元内，所述子像素内的所述感应薄膜晶体管与另一个所述子像素内的所述感应薄膜晶体管均电性连接至同一参考电压信号。
24.可选的，在本技术的一些实施例中，所述像素驱动电路还包括开关薄膜晶体管、驱动薄膜晶体管、所述感应薄膜晶体管、有机发光二极管以及存储电容；
25.其中，所述开关薄膜晶体管的源极电连接数据信号，漏极电连接所述驱动薄膜晶体管的栅极，栅极电连接扫描信号；
26.所述驱动薄膜晶体管的源极电连接恒压高电位信号，漏极电连接所述有机发光二极管的第一电极以及所述感应薄膜晶体管的漏极；
27.所述感应薄膜晶体管的源极电连接所述参考电压信号，栅极电连接感应使能信号；
28.所述有机发光二极管的第二电极电连接恒压低电位信号；
29.所述存储电容的第一板电连接所述开关薄膜晶体管的漏极以及所述驱动薄膜晶体管的栅极，第二板电连接所述驱动薄膜晶体管的漏极以及所述有机发光二极管的第一电极。
30.可选的，在本技术的一些实施例中，所述将所述第三子像素的补偿参数设定为所述第二子像素的补偿参数的步骤之后还包括：
31.对所述第一子像素对应的区域进行镭射修补，使得所述第一子像素经过像素电压补偿后显示正常。
32.相应地，本技术实施例还提供一种补偿装置，应用于显示面板，所述显示面板包括多个像素单元，每一个所述像素单元包括多个不同发光颜色的子像素，所述补偿装置包括：第一获取模块、判断模块、第二获取模块以及处理模块；
33.其中，所述第一获取模块用于获取待测显示面板在目标位置的位置信息，所述位置信息包括所述显示面板显示异常的目标位置信息；所述判断模块用于判断所述目标显示面板中的第一子像素的位置信息是否与所述目标显示面板中异常子像素的位置信息匹配；所述第二获取模块用于当所述第一子像素的位置信息和所述目标显示面板中异常子像素的位置信息匹配时，获取与所述第一子像素对应的第二子像素的位置信息，以及与所述第二子像素对应的第三子像素的位置信息，所述第二子像素与所述第一子像素处于同一所述
像素单元，所述第三子像素与所述第二子像素的相邻设置且发光颜色相同；所述处理模块，用于将所述第三子像素的补偿参数设定为所述第二子像素的补偿参数。
34.可选的，在本技术的一些实施例中，每一个所述子像素包括一个像素驱动电路，所述像素驱动电路还包括一个感应薄膜晶体管；
35.其中，在同一所述像素单元内，所述子像素内的所述感应薄膜晶体管与另一个所述子像素内的所述感应薄膜晶体管均电性连接至同一参考电压信号。
36.本技术实施例提供一种显示面板的补偿方法及补偿装置；所述补偿方法包括：首先获取目标显示面板中第一子像素的位置信息，所述第一子像素为待补偿子像素；当所述第一子像素的位置信息和所述目标显示面板中异常子像素的位置信息匹配时，获取与所述第一子像素对应的第二子像素的位置信息，所述第二子像素与所述第一子像素位于同一像素单元内；之后，根据所述第二子像素的位置信息，获取与所述第二子像素对应的第三子像素的位置信息，所述第三子像素与所述第二子像素的相邻设置且发光颜色相同；最后，将所述第三子像素的补偿参数设定为所述第二子像素的补偿参数；上述显示面板的补偿方法，首先确定待补偿像素是否显示异常，当待补偿像素显示异常时，将与所述待补偿像素处于同一像素单元的第二子像素的补偿参数设定为第三子像素经过补偿后的像素电压值，其中所述第三子像素与所述第二子像素相邻设置且发光颜色相同，从而避免所述第二子像素因所述待补偿像素发生缺陷而被补偿成亮点或暗点，进而优化显示模组制程流程，降低显示模组的修补及补偿产能，同时避免显示模组修补失败导致的不必要良率损失。
附图说明
37.为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅是本技术的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
38.图1为本技术实施例提供的显示面板的补偿方法流程图；
39.图2为本技术实施例提供的显示面板的像素驱动电路示意图；
40.图3为本技术实施例提供的显示面板中像素分布示意图；
41.图4为本技术实施例的一种补偿装置的结构框图。
具体实施方式
42.下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。此外，应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本技术，并不用于限制本技术。在本技术中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上”和“下”通常是指装置实际使用或工作状态下的上和下，具体为附图中的图面方向；而“内”和“外”则是针对装置的轮廓而言的。
43.本技术实施例针对当前显示面板在电压侦测补偿阶段形成亮暗连接的点缺陷的技术问题，本技术实施例可以改善上述技术问题。
44.本技术实施例提供一种显示面板的补偿方法，所述补偿方法包括但不限于以下实
施例以及以下实施例的组合。
45.在一实施例中，如图1所示，为本技术实施例提供的显示面板的补偿方法流程图；所述显示面板的补偿方法包括但不限于以下步骤。
46.s10，获取目标显示面板中第一子像素的位置信息，所述第一子像素为待补偿子像素。
47.具体地，所述s10还包括：
48.首先扫描所述目标显示面板；之后，获取所述目标显示面板中第一子像素的像素坐标，以得到所述目标显示面板中第一子像素的位置信息。
49.其中，所述待测显示面板包括呈阵列排布的像素单元，每个像素单元包括多个发光颜色不同的子像素，每一个所述子像素均对应连接一个像素驱动电路，所述像素驱动电路用于对与其对应的所述子像素的阈值电压进行侦测和补偿，用以保证每一个所述子像素的发光亮度相同。
50.具体地，所述像素驱动电路还包括一个感应薄膜晶体管；在同一所述像素单元内，所述子像素内的所述感应薄膜晶体管与另一个所述子像素内的所述感应薄膜晶体管均电性连接至同一参考电压信号；这样设置是为了减少线路密度。
51.进一步地，所述像素单元包括一个红色子像素、一个绿色子像素以及一个蓝色子像素；或者，所述像素单元包括一个红色子像素、一个绿色子像素、一个蓝色子像素以及一个白色子像素。
52.s20，当所述第一子像素的位置信息和所述目标显示面板中异常子像素的位置信息匹配时，获取与所述第一子像素对应的第二子像素的位置信息，所述第二子像素与所述第一子像素位于同一像素单元内。
53.具体地，所述s20还包括：
54.首先，对所述目标显示面板输入测试信号，使每一个所述子像素点亮；接着通过缺陷检测装置逐一观察各个像素是否良好；当所述缺陷检测装置发现某一个子像素显示异常时，获取所述目标显示面板中异常子像素的位置信息，并将所述异常子像素的位置信息存储至补偿装置中。其中，所述子像素显示异常是指所述子像素显示亮点或者显示暗点。
55.之后，将所述第一子像素的位置信息和所述补偿装置中异常子像素的位置信息进行对比；当所述第一子像素的位置信息和所述目标显示面板中异常子像素的位置信息匹配时，认定所述第一子像素即为异常子像素；此时获取与所述第一子像素对应的第二子像素的位置信息，所述第二子像素与所述第一子像素位于同一像素单元内。
56.进一步地，当所述第一子像素的位置信息和所述目标显示面板中异常子像素的位置信息不匹配时，认定所述第一子像素即为正常发光子像素；此时，所述第一子像素对应地所述像素驱动电路正常地对所述第一子像素中的驱动薄膜晶体管的阈值电压进行侦测和补偿，以使所述第一子像素的亮度与其他正常发光子像素的亮度相同。
57.s30，根据所述第二子像素的位置信息，获取与所述第二子像素对应的第三子像素的位置信息，所述第三子像素与所述第二子像素相邻设置且发光颜色相同。
58.具体地，所述s30还包括：
59.其中，根据所述第二子像素的位置信息，直接获取与所述第二子像素对应的第三子像素的位置信息，所述第三子像素与所述第二子像素相邻设置且发光颜色相同。
60.s40，将所述第三子像素的补偿参数设定为所述第二子像素的补偿参数。
61.具体地，所述s40还包括：
62.首先，所述第三子像素对应地所述像素驱动电路正常地对所述第三子像素中的驱动薄膜晶体管的阈值电压进行侦测和补偿，得到所述第三子像素中的驱动薄膜晶体管的阈值电压补偿值，此阈值电压补偿值即为所述第三子像素的。之后，所述补偿装置通过补偿算法直接将第三子像素的补偿参数设定为所述第二子像素的补偿参数。
63.由于所述第一子像素为显示异常的子像素，与所述第一子像素为同一像素单元的所述第二子像素由于与所述第一子像素共用侦测补偿电路，会导致所述第二子像素中的驱动薄膜晶体管的阈值电压补偿值变大或变小，从而使得所述第二子像素变亮或者变暗；而此时，与所述第二子像素相邻且颜色相同的所述第三子像素中的驱动薄膜晶体管的阈值电压补偿值保持不变，从而能够避免所述第二子像素由于所述第一子像素的制程缺陷导致显示异常，避免增加模组修补及补偿产能。
64.在本技术的一些实施例中，所述将所述第三子像素的补偿参数设定为所述第二子像素的补偿参数的步骤之后还包括：
65.对所述第一子像素对应的区域进行镭射修补，使得所述第一子像素经过像素电压补偿后显示正常。
66.由于所述第一子像素经过像素电压补偿后与其他子像素经过补偿后的亮度值仍然不一致，故需要对所述第一子像素对应的区域进行检测，发现缺陷后对该缺陷进行镭射修补；之后，重新对所述第一子像素对应的驱动薄膜晶体管的阈值电压进行补偿，使得所述第一子像素经过补偿后的亮度值与其他子像素经过补偿后的亮度值一致。
67.针对当前显示面板在电压侦测补偿阶段形成亮暗连接的点缺陷的技术问题，本技术实施例提供一种显示面板的补偿方法，所述补偿方法包括：首先获取目标显示面板中第一子像素的位置信息，所述第一子像素为待补偿子像素；当所述第一子像素的位置信息和所述目标显示面板中异常子像素的位置信息匹配时，获取与所述第一子像素对应的第二子像素的位置信息，所述第二子像素与所述第一子像素位于同一像素单元内；之后，根据所述第二子像素的位置信息，获取与所述第二子像素对应的第三子像素的位置信息，所述第三子像素与所述第二子像素的相邻设置且发光颜色相同；最后，将所述第三子像素的补偿参数设定为所述第二子像素的补偿参数；上述显示面板的补偿方法，首先确定待补偿像素是否显示异常，当待补偿像素显示异常时，将与所述待补偿像素处于同一像素单元的第二子像素的补偿参数设定为第三子像素经过补偿后的像素电压值，其中所述第三子像素与所述第二子像素相邻设置且发光颜色相同，从而避免所述第二子像素因所述待补偿像素发生缺陷而被补偿成亮点或暗点，进而优化显示模组制程流程，降低显示模组的修补及补偿产能，同时避免显示模组修补失败导致的不必要良率损失。
68.如图2所示，为本技术实施例提供的显示面板的像素驱动电路示意图；其中，每一个子像素对应一个所述像素驱动电路，在同一所述像素单元内，所述子像素内的所述感应薄膜晶体管与另一个所述子像素内的所述感应薄膜晶体管均电性连接至同一参考电压信号(vref)。
69.具体地，所述像素驱动电路包括开关薄膜晶体管(scan tft)、驱动薄膜晶体管(drive tft)、所述感应薄膜晶体管(sense tft)、有机发光二极管(oled)以及存储电容
(cst)；
70.其中，所述开关薄膜晶体管(scan tft)的源极电连接红色子像素数据信号data(r)、绿色子像素数据信号data(g)以及蓝色子像素数据信号data(b)中的任意一种，漏极电连接所述驱动薄膜晶体管(drive tft)的栅极，栅极电连接扫描信号；
71.所述驱动薄膜晶体管(drive tft)的源极电连接恒压高电位信号(vdd)，漏极电连接所述有机发光二极管(oled)的第一电极以及所述感应薄膜晶体管(sense tft)的漏极；
72.所述感应薄膜晶体管(sense tft)的源极电连接所述参考电压信号(vref)，栅极电连接感应使能信号；
73.所述有机发光二极管(oled)的第二电极电连接恒压低电位信号(vss)；
74.所述存储电容(cst)的第一板电连接所述开关薄膜晶体管(scan tft)的漏极以及所述驱动薄膜晶体管(drive tft)的栅极，第二板电连接所述驱动薄膜晶体管(drive tft)的漏极以及所述有机发光二极管(vdd)的第一电极。
75.在本技术实施例中，若某一个子像素的驱动薄膜晶体管(drive tft)中的栅极与漏极短路，会导致与其处于同一所述像素单元的其他子像素的驱动薄膜晶体管(drive tft)侦测的阈值电压偏高。
76.在本技术实施例中，若某一个子像素对应的所述像素驱动电路中的驱动薄膜晶体管(drive tft)的栅极与源极短路且所述存储电容(cst)的上下两板短路，会导致与其处于同一所述像素单元的其他子像素的驱动薄膜晶体管(drive tft)侦测的阈值电压偏低。
77.在本技术实施例中，若某一个子像素对应的所述像素驱动电路中的所述有机发光二极管(oled)的第一电极与第二电极短路，会导致与其处于同一所述像素单元的其他子像素的驱动薄膜晶体管(drive tft)侦测的阈值电压偏低。
78.如图3所示，为本技术实施例提供的显示面板中像素分布示意图；其中，所述像素单元包括子像素a、子像素b以及子像素c，所述子像素a、所述子像素b以及所述子像素c的发光颜色均不相同；子像素e和子像素f为与所述子像素b相邻且发光颜色相同，子像素g和子像素h为与所述子像素c相邻且发光颜色相同。
79.具体地，当所述子像素a点灯为暗点时，由于所述子像素a、所述子像素b以及所述子像素c共用侦测补偿线路，所述子像素a的缺陷导致像素驱动电路侦测到的所述子像素b或所述子像素c中驱动薄膜晶体管的阈值电压值偏高或偏低，使得所述子像素b或所述子像素c可能在模组阈值电压补偿后变成亮点或暗点，增加了模组修补及补偿产能，以及增加了模组修补失败导致的不必要良率损失。此时，所述子像素b可以借用所述子像素e或者所述子像素f的补偿参数，所述子像素c可以借用所述子像素g或者所述子像素h的补偿参数,以避免这种影响。
80.相应地，如图4所示，为本技术实施例的一种补偿装置的结构框图。其中，本技术实施例提供一种补偿装置400，应用于显示面板，所述显示面板包括多个像素单元，每一个所述像素单元包括多个不同发光颜色的子像素；其中，所述补偿装置包括：
81.第一获取模块401，用于获取待测显示面板在目标位置的位置信息，所述位置信息包括所述显示面板显示异常的目标位置信息；
82.判断模块402，用于判断所述目标显示面板中的第一子像素的位置信息是否与所述目标显示面板中异常子像素的位置信息匹配；
83.第二获取模块403，用于当所述第一子像素的位置信息和所述目标显示面板中异常子像素的位置信息匹配时，获取与所述第一子像素对应的第二子像素的位置信息，以及与所述第二子像素对应的第三子像素的位置信息；其中，所述第二子像素与所述第一子像素处于同一所述像素单元，所述第三子像素与所述第二子像素的相邻设置且发光颜色相同；以及
84.处理模块404，用于将所述第三子像素的补偿参数设定为所述第二子像素的补偿参数。
85.其中，所述第一获取模块401还用于扫描所述目标显示面板，获取所述目标显示面板中第一子像素的像素坐标，以得到所述目标显示面板中第一子像素的位置信息。
86.在本技术实施例中，所述第二获取模块403还用于对所述目标显示面板进行点灯检测；确定所述目标显示面板在显示异常时对应的异常子像素的位置信息；将所述异常子像素的位置信息存储至补偿装置中。
87.在本技术实施例中，当所述第一子像素的位置信息和所述目标显示面板中异常子像素的位置信息不匹配时，对所述第一子像素的像素电压进行补偿。
88.在本技术实施例中，所述处理模块404用于通过像素驱动电路对所述第三子像素的像素电压进行补偿，得到所述第三子像素的补偿参数；之后，将所述第三子像素的补偿参数设定为所述第二子像素的补偿参数。
89.在本技术实施例中，每一个所述像素驱动电路对应一个所述子像素，所述像素驱动电路还包括一个感应薄膜晶体管；
90.其中，在同一所述像素单元内，所述子像素内的所述感应薄膜晶体管与另一个所述子像素内的所述感应薄膜晶体管均电性连接至同一参考电压信号。
91.本技术实施例提供一种显示面板的补偿方法及补偿装置；所述补偿方法包括：首先获取目标显示面板中第一子像素的位置信息，所述第一子像素为待补偿子像素；当所述第一子像素的位置信息和所述目标显示面板中异常子像素的位置信息匹配时，获取与所述第一子像素对应的第二子像素的位置信息，所述第二子像素与所述第一子像素位于同一像素单元内；之后，根据所述第二子像素的位置信息，获取与所述第二子像素对应的第三子像素的位置信息，所述第三子像素与所述第二子像素的相邻设置且发光颜色相同；最后，将所述第三子像素的补偿参数设定为所述第二子像素的补偿参数；上述显示面板的补偿方法，首先确定待补偿像素是否显示异常，当待补偿像素显示异常时，将与所述待补偿像素处于同一像素单元的第二子像素的补偿参数设定为第三子像素经过补偿后的像素电压值，其中所述第三子像素与所述第二子像素相邻设置且发光颜色相同，从而避免所述第二子像素因所述待补偿像素发生缺陷而被补偿成亮点或暗点，进而优化显示模组制程流程，降低显示模组的修补及补偿产能，同时避免显示模组修补失败导致的不必要良率损失。
92.以上对本技术实施例所提供的一种显示面板100及移动终端进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本技术的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本技术的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本技术的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本技术的限制。