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专利摘要

本发明公开了一种制备部分覆盖侧面电极的方法,属于光电子技术领域。
步骤包括:A.第一次清洗干燥,B.第一次光刻,C.第一次刻蚀,D.第二次清洗干燥,E.沉积钝化层,F.第二次光刻,G.第二次刻蚀,H.沉积电极,I.腐蚀,J.退火。
通过增加预刻蚀台阶,在钝化层去除的同时,除去台面侧面的部分接触金属电极,实现侧面电极的部分覆盖,在保证良好的附着接触质量前提下,所制备电极结构满足低的接触非线性结电容和接触电阻;同时,本制备方法简单,电极可靠性高。

专利状态

基础信息

专利号
CN201810736715.1
申请日
2018-07-06
公开日
2021-07-23
公开号
CN109052310B
主分类号
/B/B81/ 作业;运输
标准类别
微观结构技术
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
有效专利

发明人

王文杰 谢武泽 李舒啸 安宁 李倩 曾建平

申请人

中国工程物理研究院电子工程研究所

申请人地址

621999 四川省绵阳市游仙区绵山路64号

专利摘要

本发明公开了一种制备部分覆盖侧面电极的方法,属于光电子技术领域。
步骤包括:A.第一次清洗干燥,B.第一次光刻,C.第一次刻蚀,D.第二次清洗干燥,E.沉积钝化层,F.第二次光刻,G.第二次刻蚀,H.沉积电极,I.腐蚀,J.退火。
通过增加预刻蚀台阶,在钝化层去除的同时,除去台面侧面的部分接触金属电极,实现侧面电极的部分覆盖,在保证良好的附着接触质量前提下,所制备电极结构满足低的接触非线性结电容和接触电阻;同时,本制备方法简单,电极可靠性高。

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