本发明涉及一种基于光纤的剪切力探测装置，包括衬底层，所述衬底层的上方设置有第一贵金属微纳结构阵列，所述第一贵金属微纳结构阵列的上方设置有透明弹性层，所述透明弹性层的上方设置有第二贵金属微纳结构阵列，所述第二贵金属微纳结构阵列的上方设置有纤芯；该基于光纤的剪切力探测装置，能够将对待测物体的剪切力转换为光学信号，通过检测纤芯内的透射系数的变化，从而判断耦合强度的变化，判断待测物体受到的剪切力，实现剪切力的检测，该基于光纤的剪切力探测装置，具有结构简单、抗干扰能力强，灵敏度高、精确度高的优点。

杨雯 李佳保 杨培志 马春阳 彭柳军

云南师范大学

650500 云南省昆明市呈贡区雨花片区1号

本发明涉及一种基于光纤的剪切力探测装置，包括衬底层，所述衬底层的上方设置有第一贵金属微纳结构阵列，所述第一贵金属微纳结构阵列的上方设置有透明弹性层，所述透明弹性层的上方设置有第二贵金属微纳结构阵列，所述第二贵金属微纳结构阵列的上方设置有纤芯；该基于光纤的剪切力探测装置，能够将对待测物体的剪切力转换为光学信号，通过检测纤芯内的透射系数的变化，从而判断耦合强度的变化，判断待测物体受到的剪切力，实现剪切力的检测，该基于光纤的剪切力探测装置，具有结构简单、抗干扰能力强，灵敏度高、精确度高的优点。