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专利摘要

利用天线高效率地产生溅射用的等离子体,并且使等离子体的均匀性提高而使成膜的均匀性提高。
本发明包括:真空容器2,被真空排气,并且被导入气体;基板保持部3,在真空容器2内保持基板W;靶材保持部4,在真空容器2内与基板W相向而保持靶材T;以及多个天线5,在内部具有冷却液所流通的流路;并且天线5包括:导体部件51,至少两个,且呈管状;绝缘部件52,设置于相互邻接的导体部件51之间,使所述导体部件51绝缘,且呈管状;以及电容元件53,与相互邻接的导体部件51电串联连接;电容元件53包括:第一电极53A,与相互邻接的导体部件51中的一者电连接;第二电极53B,与相互邻接的导体部件51中的另一者电连接,并且与第一电极53A相向而配置;以及电介质,填满第一电极53A与第二电极53B之间的空间;并且电介质为冷却液CL。

专利状态

基础信息

专利号
CN201880036037.6
申请日
2018-03-14
公开日
2020-01-17
公开号
CN110709533A
主分类号
/C/C23/ 化学;冶金
标准类别
对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
审查中-实审

发明人

岸田茂明 松尾大辅 瀬戸口佳孝 安东靖典

申请人

日新电机株式会社

申请人地址

日本京都府京都市右京区梅津高亩町47番地

专利摘要

利用天线高效率地产生溅射用的等离子体,并且使等离子体的均匀性提高而使成膜的均匀性提高。
本发明包括:真空容器2,被真空排气,并且被导入气体;基板保持部3,在真空容器2内保持基板W;靶材保持部4,在真空容器2内与基板W相向而保持靶材T;以及多个天线5,在内部具有冷却液所流通的流路;并且天线5包括:导体部件51,至少两个,且呈管状;绝缘部件52,设置于相互邻接的导体部件51之间,使所述导体部件51绝缘,且呈管状;以及电容元件53,与相互邻接的导体部件51电串联连接;电容元件53包括:第一电极53A,与相互邻接的导体部件51中的一者电连接;第二电极53B,与相互邻接的导体部件51中的另一者电连接,并且与第一电极53A相向而配置;以及电介质,填满第一电极53A与第二电极53B之间的空间;并且电介质为冷却液CL。

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