本发明公开了一种板式轨道摊铺层粗糙度测量装置以及粗糙度测量方法，装置包括框架和测量组件，测量组件与框架之间设置有第一移动组件和第二移动组件，测量组件通过第一移动组件在框架内沿X轴移动，测量组件通过第二移动组件在框架内沿Y轴移动；测量组件包括可沿垂直方向移动的探针和可显示探针移动量的深度表；测量方法通过上述装置实现。
本发明在使用时可便捷地将自身调节至与待测表面完全平行的状态，还可实现对待测表面所有位置的连续测量，测量数据实时显示在外界的电子设备上，可选择人工或自动对坐标和粗糙度进行记录，提高了测量效率，得到的数据可完整反映待测表面的粗糙度分布，大大降低了测量误差和人工成本。

陈宪麦 徐磊 彭俊 董春敏 李赛 盘柳 陈楠 王日吉

中南大学

410083 湖南省长沙市麓山南路932号

本发明公开了一种板式轨道摊铺层粗糙度测量装置以及粗糙度测量方法，装置包括框架和测量组件，测量组件与框架之间设置有第一移动组件和第二移动组件，测量组件通过第一移动组件在框架内沿X轴移动，测量组件通过第二移动组件在框架内沿Y轴移动；测量组件包括可沿垂直方向移动的探针和可显示探针移动量的深度表；测量方法通过上述装置实现。
本发明在使用时可便捷地将自身调节至与待测表面完全平行的状态，还可实现对待测表面所有位置的连续测量，测量数据实时显示在外界的电子设备上，可选择人工或自动对坐标和粗糙度进行记录，提高了测量效率，得到的数据可完整反映待测表面的粗糙度分布，大大降低了测量误差和人工成本。