1.本技术涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板的检测方法及检测电路。
背景技术：
2.在大尺寸tft-lcd及tft-oled行业，栅极及源漏极信号线制程完成后，通常会增加内部信号线断路与短路(open&short)检测站点，检出栅极线路及源漏极线路的open&short，以及时修复，提升产品良率。
3.但是对信号线进行断路/短路的检测通常使用ost(open/short tester)装置，该装置在测试过程中探测器的探测头距离玻璃表面较近(100～200um)。当有微小异物掉落到玻璃表面时，极易发生玻璃刮伤或者破片。同时因为设备在生产过程中需要进行玻璃旋转，会对玻璃进行低真空吸附，也容易发生微小异物导致的玻璃吸附裂纹。
4.当破片未发生在探测器的探测头的扫描路径上时，可能会由于漏检而导致大批量破片异常的发生。且随着面板尺寸的增大，受限于探测器的探测头的扫描路径的设置，该异常发生的风险越高。
5.因此，现有技术存在缺陷，急需解决。
技术实现要素：
6.本技术提供一种显示面板的检测方法及检测电路，能够检测出面板发生破片而不易被探测的问题。
7.为解决上述问题，本技术提供的技术方案如下：
8.一种显示面板的检测方法，所示显示面板包括基板、以及位于基板上的若干信号线，所述检测方法包括：
9.从所述信号线的始端发射信号；
10.从所述信号线的末端接收信号；
11.根据所接收的所述信号生成所述信号线的信号检测波形；
12.判断所述检测信号的波形是否发生形变；
13.若判断为是，则判断显示面板断路或短路。
14.在本发明的其中一些实施例中，判断所述检测信号的波形是否发生形变包括：
15.获取所述信号检测波形的第一特征参数；
16.将所述第一特征参数和预设波形的第一特征参数进行比较，以判断所述检测信号的波形是否发生形变。
17.在本发明的其中一些实施例中，所述第一特征参数包括所述信号检测波形的幅度、所述信号检测波形的上升沿时间、所述信号检测波形的下降沿时间、所述信号检测波形的脉宽以及所述信号检测波形的重复周期中的至少一种。
18.在本发明的其中一些实施例中，所述信号检测波形包括多个正常的分信号波形，每个所述分信号波形与一个信号线对应，且第n个信号线对应的分信号波形的起始端与第
n-1个信号线对应的分信号波形的末端相连，第n个信号线对应的分信号波形的末端与第n+1个信号线对应的分信号波形的起始端相连。
19.在本发明的其中一些实施例中，当判断显示面板短路或者短路时，还包括输出发生断路或者短路的信号线的位置并给出报警，其中，输出当前发生断路或者短路的所述信号线的位置的方法包括：
20.统计当前所述信号检测波形包括的分信号波形的第二特征参数；以及
21.根据所述第二特征参数与所述信号线的对应关系得出当前发生断路或者断路的信号线的位置。
22.在本发明的其中一些实施例中，所述第二特征参数包括正常的所述分信号波形的数量、所述分信号波形的脉宽以及所述分信号波形的重复周期中的至少一种。
23.本发明还涉及一种显示面板的检测电路。
24.一种显示面板的检测电路，包括：
25.接收模块，用于接收所述显示面板的检测信号；
26.信号处理模块，用于接收所述检测信号并生成信号检测波形；以及
27.判断模块，判断所述信号检测波形是否发生形变，并输出判断结果。
28.在本发明的其中一些实施例中，所述判断模块进一步用于获取所述信号检测波形的第一特征参数，将所述第一特征参数和预设波形的第一特征参数进行比较，以判断所述检测信号的波形是否发生形变。
29.在本发明的其中一些实施例中，所述第一特征参数包括所述信号检测波形的幅度、所述检测信号的上升沿时间、所述信号检测波形的下降沿时间、所述信号检测波形的脉宽以及所述信号检测波形的重复周期中的至少一种。
30.在本发明的其中一些实施例中，所述检测电路还包括统计模块，所述统计模块用于统计当前所述信号检测波形包括的第二特征参数并传输至信号处理模块；所述信号处理模块还根据所述第二特征参数与所述信号线的对应关系获得当前发生断路或者断路的信号线的位置，其中，第二特征参数包括正常的所述分信号波形的数量、所述分信号波形的脉宽以及所述分信号波形的重复周期中的至少一种。
31.本技术的有益效果为：本技术提供的显示面板的检测方法及检测电路，从所述信号线的始端发射信号；从所述信号线的末端接收信号；根据所接收的所述信号生成所述信号线的信号检测波形；判断所述检测信号的波形是否发生形变；若判断为是，则判断显示面板断路或短路，也即是说，本技术提供的显示面板的检测方法及检测电路，摈弃现有技术中通过探测器的探测头对显示面板进行扫描，而是采用电流在电压在信号线中传输时生成的信号检测波形是否发生异常而判断信号线是否有断路或者短路的现象发生，进而通过断路或者短路的现象判断显示面板是否有破片的现象发生。
附图说明
32.下面结合附图，通过对本技术的具体实施方式详细描述，将使本技术的技术方案及其它有益效果显而易见。
33.图1为本技术提供的一种利用ost机台对显示面板进行检测的检测示意图；
34.图2为利用ost机台对显示面板进行检测时输出的波形示意图；
35.图3为本技术显示面板的检测方法第一实施方式的流程示意图；
36.图4为本技术提供的一种显示面板的检测电路的功能模块示意图。
37.附图标记说明
38.100-显示面板的检测电路；
39.101-显示面板；1-基板；2-第一信号线；3-第二信号线；8-破片；
40.4-信号发射器；5-信号接收器；6-信号检测波形；9-异常波形；
41.7-分信号波形；10-接收模块；20-信号处理模块；
42.30-判断模块；40-统计模块。
具体实施方式
43.下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
44.在本技术的描述中，需要理解的是，术语“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
45.本技术可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。以下请结合具体实施例对本技术的所述显示面板的检测方法及检测电路进行详细描述。
46.请参阅图1-3，本技术提供一种显示面板的检测方法，所示显示面板101包括基板1、以及位于基板1上的若干信号线，若干所述信号线包括垂直交叉分布的第一信号线2和第二信号线3；其中，第一信号线2为栅极信号线，第二信号线3为源极或漏极信号线。本技术以第一信号线2为例进行说明本发明，可以理解，对第二信号线3的检测与第一信号线2的检测方法相同。所述检测方法包括：
47.s1：提供ost机台，ost机台包括信号发射器4与信号接收器5，利用ost机台包括的信号发射器4从所述第一信号线2的始端发射信号。
48.s2：利用ost机台包括的信号接收器5从所述第一信号线2的末端接收信号。ost的信号发射器4与第一信号线2可以选择探针接触的方式向第一信号线2输入信号，或者电容耦合非接触的方式向第一信号线2输入信号；ost的信号接收器5器与第一信号线2可以选择探针接触的方式接收第一信号线2的输入信号，或者电容耦合非接触的方式接收第一信号线2输入的信号。ost机台包括的信号发射器4与信号接收器5在传输及接收信号时是沿着第一信号线2延伸的方向，但是在扫描时，扫描方向是与第一信号线2延伸的方向垂直的，也即，ost机台对所有的第一信号线2是连续扫描的。
49.s3：根据所接收的所述信号生成所述信号线的信号检测波形6；也即信号发射器4向基板1的一端施加交流电压，通过基板1的若干信号线对交流信号的传送，在受电端检出信号，并通过对受电端接收的信号进行放大处理，生成信号检测波形6。在本技术中，所述信号检测波形6包括多个正常的分信号波形7，每个所述分信号波形7与一个信号线对应，也即第n个信号线对应的分信号波形7的起始端与第n-1个信号线对应的分信号波形7的末端相连，第n个信号线对应的分信号波形7的末端与第n+1个信号线对应的分信号波形7的起始端相连。
50.s4：判断所述检测信号的波形是否发生形变。判断所述检测信号的波形是否发生形变包括如下步骤：
51.获取所述信号检测波形6的第一特征参数；
52.将所述第一特征参数和预设波形的第一特征参数进行比较，以判断所述检测信号的波形是否发生形变。
53.在本发明的其中一些实施例中，所述第一特征参数包括所述信号检测波形6的幅度、所述信号检测波形6的上升沿时间、所述信号检测波形6的下降沿时间、所述信号检测波形6的脉宽以及所述信号检测波形6的重复周期中的至少一种。譬如，信号检测波形6的峰值或者谷值的突然发生改变而位于阈值范围外，则可以判断此时是显示面板产生破片的位置；或者是周期突然发生改变，也可以确定发生了破片的风险。
54.为了对有波形发生形变的位置进行确认，还需要对该异常波形的前后段进行滤波以及图像分析，以得到精确的判断结果。
55.s5：若判断为是，则判断显示面板101发生断路或短路。请继续参阅图1，当ost的扫描信号扫描到显示面板101发生破片8的位置处时，破片8处由于破片，扫描的波形会发生改变，从而可以通过波形的变化判断显示面板101是否发生破片。
56.s6：当判断显示面板101发生短路或者短路时，还包括输出发生断路或者短路的信号线的位置并给出报警，其中，输出当前发生断路或者短路的所述信号线的位置的方法包括：
57.统计当前所述信号检测波形包括的分信号波形7的第二特征参数；以及
58.根据所述第二特征参数与所述信号线的对应关系得出当前发生断路或者断路的信号线的位置。
59.因为譬如对于分辨率为1920
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1080分辨率的显示面板101来说，有1920个第一信号线2及1080个第二信号线3，而ost机台所以在扫描的时候，可以设定从gate1作为扫描起始位置，gate1920作为扫描终点位置，信号检测波形6是被扫描的每个第一信号线2的分信号波形7的连线，检测电路能根据异常波形9及时输出显示面板101的发生短路及断路的位置，如此能提高检修效率。
60.在本实施例中，所述第二特征参数包括正常的所述分信号波形7的数量、所述分信号波形7的脉宽、正常分信号波形7的峰值数量、正常分信号波形7的谷值数量以及所述分信号波形7的重复周期中的至少一种。也就是说，每扫描一个第一信号线2，会生成与其对应的分信号波形7，在扫描的时候，实时统计表征分信号波形7的第二特征参数，根据第二特征参数分析处理得到发生异常的波形对应的第一信号线2所属于的排名，就得出了发生异常波形9对应的信号线的位置。
61.请参阅图4，本发明还涉及一种显示面板的检测电路100。所述显示面板的检测电路100，包括：接收模块10、信号处理模块20、判断模块30以及统计模块40。
62.接收模块10用于接收所述显示面板101的检测信号。
63.信号处理模块20用于接收所述检测信号并生成信号检测波形6；以及
64.判断模块30用于判断所述信号检测波形6是否发生形变，并输出判断结果；所述判断模块30进一步用于获取所述信号检测波形6的第一特征参数，将所述第一特征参数和预设波形的第一特征参数进行比较，以判断所述检测信号的波形是否发生形变。所述第一特征参数包括所述信号检测波形6的幅度、所述检测信号的上升沿时间、所述信号检测波形6的下降沿时间、所述信号检测波形6的脉宽以及所述信号检测波形6的重复周期中的至少一种。
65.统计模块40用于统计当前表征所述信号检测波形6包括的第二特征参数并传输至信号处理模块20。
66.所述信号处理模块20还根据所述第二特征参数与所述信号线的对应关系获得当前发生断路或者断路的信号线的位置，其中，表征第二特征参数包括扫描的信号线的数量、正常的所述分信号波形7的数量、所述分信号波形7的峰值数量、谷值数量、所述分信号波形7的重复周期及信号检测波形在坐标系中的位移中的至少一种。
67.可以理解，在其它实施方式中，还包括滤波模块，所述滤波模块用于截取异常波形9的部分前段及部分后端，发送给信号处理模块20进行精确分析。
68.综上所述，本发明提供的技术方案，从基板1表面的信号线的始端发射信号；从所述信号线的末端接收信号；根据所接收的所述信号生成所述信号线的信号检测波形6；判断所述检测信号的波形是否发生形变；若判断为是，则判断显示面板101断路或短路，并给出发生短路或者断路的位置，方便工作人员根据扫描结果及时对发生短路或者断路的位置进行检修，提高了对显示面板101的检测效率，也即是说，本技术提供的显示面板的检测方法及检测电路，摈弃现有技术中通过探测器的探测头对显示面板101进行接触式扫描的方式，而是采用电流在电压在信号线中传输时生成的信号检测波形6是否发生异常而判断信号线是否有断路或者短路的现象发生，进而通过断路或者短路的现象判断显示面板101是否有破片的现象发生。这样也能克服现有技术中利用ost机台的探头对显示面板101进行扫描探测时容易接触掉落在显示面板101上异物而引起损伤显示面板101的情况发生。
69.综上所述，虽然本技术已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本技术，本领域的普通技术人员，在不脱离本技术的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本技术的保护范围以权利要求界定的范围为准。