公开了用传感器测量多个控制表面的方法和装置。
用于确定与第一控制表面和第二控制表面相关联的状况的公开的示例装置包括传感器，该传感器用于测量与其操作性地耦接的轴的旋转。
该装置还包括操作性地耦接在轴与第一控制表面的第一枢轴之间的第一差速器，以及操作性地耦接在第一差速器与第二控制表面的第二枢轴之间的第二差速器。

马克·S·古德

波音公司

美国伊利诺斯州

公开了用传感器测量多个控制表面的方法和装置。
用于确定与第一控制表面和第二控制表面相关联的状况的公开的示例装置包括传感器，该传感器用于测量与其操作性地耦接的轴的旋转。
该装置还包括操作性地耦接在轴与第一控制表面的第一枢轴之间的第一差速器，以及操作性地耦接在第一差速器与第二控制表面的第二枢轴之间的第二差速器。