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专利摘要

本发明公开了一种基于宽尺度范围的纳米声学效应研究方法,包括以下步骤:一、不同尺度的微纳声学器件的制作;二、不同尺度的微纳声学器件的参数测试;三、不同尺度的微纳声学器件宏观声学理论计算值的获取及参数相对误差获取;四、宏观声学理论失效判断及微观分子动力学理论对纳米尺度声学器件参数计算。
本发明步骤简单,在4nm~4000nm的宽尺度范围内研究纳米声学效应,并对制作的不同尺度的微纳声学器件的参数进行测试,获取宏观声学理论失效时微纳声学器件所对应的失效波长阈值,且将在4nm~失效波长阈值范围内,采用基于分子动力学理论获取纳米尺度声学器件的参数,便于高频化和集成化纳米尺度声学器件设计。

专利状态

基础信息

专利号
CN201910119563.5
申请日
2019-02-18
公开日
2019-06-14
公开号
CN109883984A
主分类号
/B/B81/ 作业;运输
标准类别
微观结构技术
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
审查中-实审

发明人

张涛 杨烁 王梅 顾马龙 柯贤桐 曹晓闯 师晓云 蒋林

申请人

西安科技大学

申请人地址

710054 陕西省西安市雁塔中路58号

专利摘要

本发明公开了一种基于宽尺度范围的纳米声学效应研究方法,包括以下步骤:一、不同尺度的微纳声学器件的制作;二、不同尺度的微纳声学器件的参数测试;三、不同尺度的微纳声学器件宏观声学理论计算值的获取及参数相对误差获取;四、宏观声学理论失效判断及微观分子动力学理论对纳米尺度声学器件参数计算。
本发明步骤简单,在4nm~4000nm的宽尺度范围内研究纳米声学效应,并对制作的不同尺度的微纳声学器件的参数进行测试,获取宏观声学理论失效时微纳声学器件所对应的失效波长阈值,且将在4nm~失效波长阈值范围内,采用基于分子动力学理论获取纳米尺度声学器件的参数,便于高频化和集成化纳米尺度声学器件设计。

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