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专利摘要

本发明提供一种多层堆叠晶圆的研磨方法,所述方法包括以下步骤:提供第一晶圆和第二晶圆,并对两者进行熔胶键合,其中所述第二晶圆位于所述第一晶圆的上方;对所述第二晶圆的边缘进行切边处理;研磨所述第二晶圆;在所述第二晶圆上方提供第三覆盖晶圆,并将所述第二晶圆与其进行共熔键合;研磨所述第一晶圆;研磨所述第三覆盖晶圆;同时切割所述第三覆盖晶圆、所述第二晶圆和所述第一晶圆。
采用本发明的方法,省略了胶黏剂的填充、固化和残留物去除的工序,简化了工艺流程,降低了成本;避免研磨时因胶黏剂残留导致晶圆边缘出现碎裂,研磨后残胶污染晶圆的问题;避免切割时,刀片被胶包裹而钝化,影响切割品质并发生偏移。

专利状态

基础信息

专利号
CN201610929793.4
申请日
2016-10-31
公开日
2018-05-11
公开号
CN108022836A
主分类号
/B/B81/ 作业;运输
标准类别
微观结构技术
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
审查中-实审

发明人

陆建刚 施林波 陈福成

申请人

中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司

申请人地址

201203 上海市浦东新区张江路18号

专利摘要

本发明提供一种多层堆叠晶圆的研磨方法,所述方法包括以下步骤:提供第一晶圆和第二晶圆,并对两者进行熔胶键合,其中所述第二晶圆位于所述第一晶圆的上方;对所述第二晶圆的边缘进行切边处理;研磨所述第二晶圆;在所述第二晶圆上方提供第三覆盖晶圆,并将所述第二晶圆与其进行共熔键合;研磨所述第一晶圆;研磨所述第三覆盖晶圆;同时切割所述第三覆盖晶圆、所述第二晶圆和所述第一晶圆。
采用本发明的方法,省略了胶黏剂的填充、固化和残留物去除的工序,简化了工艺流程,降低了成本;避免研磨时因胶黏剂残留导致晶圆边缘出现碎裂,研磨后残胶污染晶圆的问题;避免切割时,刀片被胶包裹而钝化,影响切割品质并发生偏移。

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