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专利摘要

本发明公开了一种获得亲水性表面的抛光硅片加工方法。
该方法包括利用抛光布、抛光液对硅片进行化学机械抛光处理的过程,该过程包括粗抛步骤、中抛步骤和精抛步骤;粗抛步骤、中抛步骤和精抛步骤分别按四个阶段进行,其中,第一阶段至第三阶段均采用抛光液抛光,第四阶段均采用纯水进行抛光;中抛步骤和精抛步骤中所采用的研磨剂为平均粒径在3‑80nm的SiO

专利状态

基础信息

专利号
CN201811462180.X
申请日
2018-11-30
公开日
2021-04-30
公开号
CN111251163B
主分类号
/C/C09/ 化学;冶金
标准类别
染料;涂料;抛光剂;天然树脂;黏合剂;其他类目不包含的组合物;其他类目不包含的材料的应用
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
有效专利

发明人

史训达 刘佐星 林霖 刘云霞 周莹莹 徐继平 王磊 李奇 杨少昆 程凤伶

申请人

有研半导体材料有限公司

申请人地址

101300 北京市顺义区林河工业开发区双河路南侧

专利摘要

本发明公开了一种获得亲水性表面的抛光硅片加工方法。
该方法包括利用抛光布、抛光液对硅片进行化学机械抛光处理的过程,该过程包括粗抛步骤、中抛步骤和精抛步骤;粗抛步骤、中抛步骤和精抛步骤分别按四个阶段进行,其中,第一阶段至第三阶段均采用抛光液抛光,第四阶段均采用纯水进行抛光;中抛步骤和精抛步骤中所采用的研磨剂为平均粒径在3‑80nm的SiO

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