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专利摘要

本申请公开了一种金属线层的蚀刻液组合物,其包括过氧化氢、唑类、含氟化合物、醇胺类化合物、无机酸、有机酸或其酸式盐、表面活性剂及水。
本申请还公开了一种所述金属线层的蚀刻液组合物在阵列基板中的应用。
本发明提供的是一种能够同时蚀刻金属线和氧化物半导体层的刻蚀液组合物,用以一次性湿蚀刻阵列基板中的金属线层和置于金属线下方的氧化物活性层,成功将传统的两次湿蚀刻制程缩减成一道湿蚀刻,大大节省了机台和蚀刻液投入成本,提高了面板制造的生产节拍和效率。

专利状态

基础信息

专利号
CN202011110158.6
申请日
2020-10-16
公开日
2021-02-02
公开号
CN112301348A
主分类号
/C/C23/ 化学;冶金
标准类别
对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
发明公开

发明人

刘净

申请人

TCL华星光电技术有限公司

申请人地址

518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号

专利摘要

本申请公开了一种金属线层的蚀刻液组合物,其包括过氧化氢、唑类、含氟化合物、醇胺类化合物、无机酸、有机酸或其酸式盐、表面活性剂及水。
本申请还公开了一种所述金属线层的蚀刻液组合物在阵列基板中的应用。
本发明提供的是一种能够同时蚀刻金属线和氧化物半导体层的刻蚀液组合物,用以一次性湿蚀刻阵列基板中的金属线层和置于金属线下方的氧化物活性层,成功将传统的两次湿蚀刻制程缩减成一道湿蚀刻,大大节省了机台和蚀刻液投入成本,提高了面板制造的生产节拍和效率。

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