1.本发明涉及显示技术领域，尤其涉及显示装置及检查显示装置的导线绑定位置的方法。
背景技术：
2.在现代生活中，显示屏的应用已越来越广泛。显示技术的发展正好切合目前信息产品的潮流。覆晶薄膜(chip on flex，or，chip on film,cof)，是将集成电路固定在柔性印刷电路板(flexible printed circuit board,fpcb)上的晶粒软膜构装技术，覆晶薄膜不仅具备连接显示面板的功能，还可以使产品更加轻薄化。
3.在显示屏中，覆晶薄膜用于连接印刷电路板(printed circuit board,pcb)和显示面板。覆晶薄膜连接印刷电路板和显示面板是通过绑定(bonding)工艺完成的。完成绑定工艺后，需要检查绑定是否正常，以避免出现显示装置无法正常工作的情况。
技术实现要素：
4.为了解决以往技术中存在的上述问题，本发明提供了一种显示装置以及一种检查显示装置的导线绑定位置的方法。
5.本发明实施方式的第一方面提供了一种显示装置，包括：显示面板，其包括一条以上串联导线；以及与所述显示面板电连接的多个覆晶薄膜，每个所述覆晶薄膜分别设置有：包括间隔排列的多条第一测试导线的第一测试导线阵列、以及设置于所述第一测试导线阵列两端的第一测量引线和第二测量引线；其中，所述第一测量引线和所述第二测量引线分别与设置在所述第一测试导线阵列的边缘的一端部第一测试导线相连接；每条所述串联导线设置于与相邻两个所述覆晶薄膜的相邻的两条所述端部第一测试导线之间的间隔相对应的位置。
6.一种实施方式中，所述多个覆晶薄膜和所述显示面板绑定状态下，每条所述串联导线的第一端连接于与一覆晶薄膜的所述第二测量引线相连接的所述一端部第一测试导线，每条所述串联导线的第二端连接于与相邻覆晶薄膜的所述第一测量引线相连接的所述一端部第一测试导线。
7.一种实施方式中，所述覆晶薄膜还包括间隔排列的多条第一绑定导线；多条所述第一测试导线设置在多条所述第一绑定导线的下侧，多条所述第一测试导线位于同一条直线上。
8.一种实施方式中，所述显示面板还包括间隔排列的多条第二绑定导线以及间隔排列的多条第二测试导线，多条所述第二测试导线设置在多条所述第二绑定导线的下侧；在所述多个覆晶薄膜和所述显示面板绑定状态下，每一条所述第二测试导线设置在相邻两条所述第一测试导线之间，或每一条所述第一测试导线设置在相邻所述两条第二测试导线之间。
9.一种实施方式中，所述第二测试导线的长度大于与其相邻的两条所述第一测试导
线之间的距离，或者所述第一测试导线的长度大于与其相邻的两条所述第二测试导线之间的距离。
10.一种实施方式中，所述多个覆晶薄膜和所述显示面板的绑定状态下，所述多个覆晶薄膜的所述第一测试导线和所述显示面板的所述第二测试导线通过所述串联导线串联连接。
11.一种实施方式中，多条所述第一绑定导线与多条所述第一测试导线相互垂直设置；多条所述第二绑定导线与多条所述第二测试导线相互垂直设置。
12.一种实施方式中，所述串联导线设置于所述显示面板的薄膜晶体管基板上；所述显示面板的彩色滤光片基板覆盖所述串联导线的至少一部分。
13.一种实施方式中，所述显示装置还包括印刷电路板，所述印刷电路板上设置有间隔排列的多条第三绑定导线；所述多条第三绑定导线与所述覆晶薄膜的所述多条第一绑定导线和所述显示面板的多条第二绑定导线一一对应；所述印刷电路板的所述多条第三绑定导线和所述显示面板的多条所述第二绑定导线通过所述覆晶薄膜的所述第一绑定导线相互绑定。
14.本发明实施方式的第二方面提供了一种检查本发明实施方式中所述的显示装置的导线绑定位置的方法，所述方法包括：将所述多个覆晶薄膜绑定在所述显示面板和印刷电路板上；通过万用表测量多个所述覆晶薄膜的多条所述第一测量引线和所述第二测量引线中的任意两条测量引线之间的电阻值；基于所述任意两条测量引线之间的电阻值，检查所述覆晶薄膜在所述显示面板上的绑定是否异常。
15.一种实施方式中，测量所述显示面板上的间隔最远的两个所述覆晶薄膜之间的两端电阻值；当所测量的所述两端电阻值在正常两端电阻值的允许误差范围内，判断所有所述覆晶薄膜的绑定均正常。
16.一种实施方式中，测量所述显示面板上的间隔最远的两个所述覆晶薄膜之间的两端电阻值；当所测量的所述两端电阻值超出所述两端正常电阻值的允许误差范围且小于无穷大时，判断所述多个覆晶薄膜中发生竖直绑定位移。
17.一种实施方式中，测量所述显示面板上的间隔最远的两个所述覆晶薄膜之间的两端电阻值；当所测量的所述两端电阻值无穷大时，判断所述多个覆晶薄膜中存在水平绑定断开或者竖直绑定断开。
18.一种实施方式中，当所测量的所述两端电阻值在正常两端电阻值的允许误差范围之外时，判断所述多个覆晶薄膜中发生绑定异常，并采用二分法确定发生绑定异常的位置，所述二分法包括：测量所述间隔最远的两个所述覆晶薄膜中的一个的所述测量引线和位于中间位置的覆晶薄膜的所述测量引线之间的第一端中间电阻值；当所测量的所述第一端中间电阻值在正常第一端中间电阻值的允许误差范围之外时，判断在所测量的两条测量引线之间的覆晶薄膜存在绑定异常；当所测量的所述第一端中间电阻值在正常第一端中间电阻值的允许误差范围之内时，判断在所测量的两条测量引线之外的覆晶薄膜存在所述绑定异常。
19.一种实施方式中，对于存在绑定异常的覆晶薄膜，继续采用所述二分法确定发生绑定异常的覆晶薄膜的位置。
20.本发明的实施方式提供的技术方案可以包括以下有益效果：
21.本发明的实施方式中，在每个所述覆晶薄膜上分别设置多条第一测试导线和两条测量引线，且在所述显示面板上设置多条串联导线。在多个所述覆晶薄膜和所述显示面板绑定状态下，每条串联导线的两端可连接相邻两个所述覆晶薄膜上的相邻两个第一测试导线。当对多个所述覆晶薄膜和所示显示面板的绑定状态进行检查时，只需简单通过万用表测量任意两条测量引线之间的电阻值，即可实现对所述绑定状态的快速及精确的检查，即可以快速、准确地检查绑定导线是否完全断开或者是否发生竖直错位或水平错位等绑定异常，以及可快速查出发生绑定异常的具体位置。
附图说明
22.此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施方式，并与说明书一起用于解释本发明的原理。
23.图1是根据本发明的一示例性实施方式示出的一种显示装置的示意图。
24.图2是根据本发明的实施方式示出的一种显示装置的覆晶薄膜上的导线设置局部放大示意图。
25.图3是根据本发明的一示例性实施方式示出的一种显示装置的显示面板上的导线设置的局部放大示意图。
26.图4是根据本发明的一示例性实施方式示出的覆晶薄膜和显示面板绑定状态下的导线位置示意图。
27.图5是根据本发明的一示例性实施方式示出的一种显示装置的覆晶薄膜和显示面板绑定状态剖视图。
28.图6是根据本发明的一示例性实施方式示出的一种检查绑定区导线绑定位置的方法流程图。
29.图7是根据本发明的一示例性实施方式示出的覆晶薄膜和显示面板绑定状态的导线竖直绑定位移示意图。
30.图8是根据本发明的一示例性实施方式示出的覆晶薄膜和显示面板绑定状态的导线水平绑定断开示意图。
31.图9是根据本发明的一示例性实施方式示出的覆晶薄膜和显示面板绑定状态的导线竖直绑定断开示意图。
具体实施方式
32.这里将详细地对示例性实施方式进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施方式中所描述的实施方式并不代表与本发明公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本发明的一些方面相一致的装置和方法的例子。
33.在诸多显示装置中，例如液晶显示屏(liquid crystal display,lcd)、有机发光二极管(organic light-emitting diode,oled)显示屏等，都需要使用覆晶薄膜。覆晶薄膜多用作显示装置的驱动显示。在驱动电路中覆晶薄膜的一端连接到印刷电路板(printed circuit board,pcb)，负责接收印刷电路板传输过来的信号。覆晶薄膜的另一端连接显示面板，用于将印刷电路板上的集成电路输出的信号传输到显示面板上，驱动显示面板进行
显示。
34.具体地，覆晶薄膜连接印刷电路板和显示面板是通过绑定工艺完成的。绑定工艺主要分为两部分，卷带绑定(tape carrier package bonding，tcp)和印刷电路板绑定。卷带绑定是将覆晶薄膜经过预压、本压连接到显示面板上，将覆晶薄膜上的绑定导线和显示面板上的绑定导线压合到一起，中间通过各项异性导电胶(anisotropic conductive film,acf)实现导通。印刷电路板绑定是将覆晶薄膜的另一端绑定到印刷电路板上。
35.在通过覆晶薄膜绑定显示面板和印刷电路板时，覆晶薄膜上的绑定导线需要分别与显示面板和印刷电路板上的导线一一对位，绑定位置需要准确。如果在绑定位置不准确的情况下进行压合，则会出现导线绑定不良现象，最终导致信号无法传送，造成显示面板无法正常显示。
36.本发明实施方式中提供了一种显示装置以及一种检查显示装置的导线绑定位置的方法。可以快速、准确地检查覆晶薄膜与显示面板之间的绑定正常与否，以及能够快速、精准地检查具体的绑定异常位置。
37.本发明实施方式的第一方面提供了一种显示装置，图1是根据本发明的一示例性实施方式示出的一种显示装置的示意图。
38.如图1所示，本发明实施方式中的显示装置100包括：多个覆晶薄膜101、显示面板102以及印刷电路板103。覆晶薄膜101通过绑定工艺连接显示面板102和印刷电路板103。
39.图2是根据本发明的实施方式示出的一种显示装置的覆晶薄膜上的导线设置局部放大示意图。
40.如图2所示，每个覆晶薄膜101上分别设置有：第一测试导线阵列1017和设置于第一测试导线阵列1017两端的两条测量引线，即，第一测量引线1012和第二测量引线1013。第一测试导线阵列1017包括沿着直线方向间隔排列的多条第一测试导线1011。第一测试导线阵列1017包括两个端部第一测试导线1011，其余的第一测试导线1011在多条第一测试导线1011的排列方向上均位于两个端部第一测试导线1011之间。第一测量引线1012和第二测量引线1013相对设置在第一测试导线阵列1017的两端，且分别与位于第一测试导线阵列1017的边缘的一端部第一测试导线1011连接。
41.一较佳实施例中，每个覆晶薄膜101包括相对设置的第一端部1014和第二端部1015。第一测量引线1012与设置在覆晶薄膜101的第一端部1014的端部第一测试导线1011相连接，第二测量引线1013与设置在覆晶薄膜101的第二端部1015的端部第一测试导线1011相连接。
42.本发明的实施方式中，每个覆晶薄膜101还包括有多条第一绑定导线1016，用于与显示面板102进行绑定，以将每个覆晶薄膜101所接收到的信号传输给显示面板102。
43.在图2所示的实施方式中，多条第一测试导线1011设置于第一绑定导线1016的下侧，多条第一绑定导线1016和多条第一测试导线1011可以是相互垂直设置，也可以是具有一定角度设置，其排列方向并不局限于此。
44.在图2所示的实施方式中，多条第一测试导线1011在覆晶薄膜101上沿直线间隔排列，多条第一绑定导线1016垂直于多条第一测试导线1011的排列方向间隔设置。但本发明并不限于此，多条第一测试导线1011和多条第一绑定导线1016的位置可以按照实际需要进行设置。
45.在本发明实施方式中，第一绑定导线1016的设置数量大于第一测试导线1011的数量，第一绑定导线1016与第一测试导线1011之间呈一定角度设置。
46.每条第一绑定导线1016的长度和宽度w1可以相等，并且相邻两条第一绑定导线1016之间的距离d1也可以相等。同样的，每条第一测试导线1011的长度l1和宽度w2可以相等，并且相邻两个第一测试导线1011之间的距离也可以相等。每条第一绑定导线1016与第一测试导线1011之间的距离d2也相等。具体的，第一测试导线1011的长度l1等于相邻两条第一绑定导线1016之间的距离d1与两条第一绑定导线1016的宽度w1之和，即，l1＝d1+2*w1。第一绑定导线1016与第一测试导线1011之间的距离d2大于或者等于第一测试导线1011的宽度w2，即，d2≥w2。
47.通过设置具有相等间距和相等长度的多个第一绑定导线1016和具有相等间距和相等长度的多个第一测试导线1011，使覆晶薄膜101在与显示面板102绑定时，便于调整覆晶薄膜101在显示面板102上的绑定位置。
48.可以理解的是，具有一定排列规律的第一绑定导线1016和第一测试导线1011在与显示面板102上的导线进行绑定时，便于调整第一绑定导线1016的位置，可提高第一绑定导线1016与显示面板102的相应导线之间的绑定精确度。
49.图3是根据本发明的一示例性实施方式示出的一种显示装置的显示面板上的导线设置的局部放大示意图。
50.如图3所示，显示面板102上设置有间隔排列的多条第二绑定导线1023。多条第二绑定导线1023与覆晶薄膜101的多条第一绑定导线1016一一对应。多条第二绑定导线1023用于与每个覆晶薄膜101上的多条第一绑定导线1016进行绑定，以接收信号。
51.如图3所示，显示面板102上还设置有沿着直线方向间隔排列的多条第二测试导线1021和多条串联导线1022。多条第二测试导线1021和多条串联导线1022设置在第二绑定导线1023的下侧。
52.在本发明实施方式中，每条串联导线1022分别设置在相邻两个覆晶薄膜101之间的间隔相对应的位置，以连接相邻两个覆晶薄膜101的相邻的端部(第一端部1014和第二端部1015)第一测试导线1011(如图4所示)。
53.在多个覆晶薄膜101与显示面板102绑定的状态下，显示面板102上的多条第二测试导线1021与覆晶薄膜101的多条第一测试导线1011位于同一条直线上。
54.显示面板102的多条第二绑定导线1023可以与多条第二测试导线1021相互垂直设置。显示面板102的多条第二绑定导线1023可以与覆晶薄膜101上的多条第一绑定导线1016的导线长度相等，并且相邻两条第二绑定导线1023之间的距离可以与相邻两条第一绑定导线1016之间的距离相等。
55.在本发明实施方式中，在显示面板102上间隔排列的多条第二测试导线1021与在覆晶薄膜101上间隔排列的多条第一测试导线1011之间具有一定设置规律。即，在显示面板102上的每条第二测试导线1021均设置在一覆晶薄膜101的相邻两条第一测试导线1011的间隔相对应位置，或者，覆晶薄膜101的每条第一测试导线1011均设置在显示面板102的相邻两条第二测试导线1021的间隔相对应位置。
56.并且，第二测试导线1021的长度l1’大于与其相邻的两条第一测试导线1011之间的距离，或者第一测试导线1011的长度l1大于与其相邻的两条第二测试导线1021之间的距
离。具体的，第二测试导线1021的长度l1’等于两条第二绑定导线1023的宽度w1’与相邻两条第二绑定导线1023之间的距离d1’之和，即，l1’＝d1’+2*w1’。第二绑定导线1023与第二测试导线1021之间的距离d2’大于或等于第二测试导线1021的宽度w2’，即，d2’≥w2’。由此，可以保证多个覆晶薄膜101和显示面板102绑定的状态下，通过串联导线1022使多个覆晶薄膜101的第一测试导线1011和显示面板102的第二测试导线1021串联连接。
57.在本发明实施方式中，覆晶薄膜101的第一测试导线1011的设置数量大于显示面板102的第二测试导线1021的设置数量。当覆晶薄膜101的第一测试导线1011的数量为n(n大于或者等于2)条时，显示面板102的第二测试导线1021的数量则为n-1条。
58.如图1所示，每条串联导线1022分别设置在与相邻两个覆晶薄膜101之间的间隔相对应的位置，以便于连接相邻覆晶薄膜101上的第一测试导线1011。因此，当绑定n个覆晶薄膜101时，需要设置n-1条串联导线1022。
59.具体的，在多个覆晶薄膜101和显示面板102绑定状态下，每条串联导线1022的第一端连接覆晶薄膜101的第二端部1015的第一测试导线1011，每条串联导线1022的第二端连接相邻的覆晶薄膜101的第一端部1014的第一测试导线1011。
60.如图1所示，在本发明实施方式中，显示装置100的印刷电路板103上设置有间隔排列的多条第三绑定导线1031，多条第三绑定导线1031与覆晶薄膜101的多条第一绑定导线1016和显示面板102的多条第二绑定导线1023一一对应。多条第三绑定导线1031和显示面板102的多条第二绑定导线1023通过多个覆晶薄膜101的多条第一绑定导线1016相互绑定，以通过多个覆晶薄膜101的多条第一绑定导线1016将印刷电路板103的信号传输给显示面板102上的多条第二绑定导线1023。在图1中未示意出用于连接覆晶薄膜101的多条第一绑定导线1016和印刷电路板103的多条第三绑定导线1031的导线。
61.在本发明实施方式的显示装置100中，多个覆晶薄膜101和显示面板102处于绑定状态下，通过显示面板102上的每条串联导线1022使多个覆晶薄膜101的第一测试导线1011和显示面板102上的第二测试导线1021串联连接。进而，可通过万用表连接多个覆晶薄膜101上的多个第一测量引线1012和多个第二测量引线1013中的任意两条测量引线，使万用表与位于上述的任意两条测量引线之间的第一测试导线1011、第二测试导线1021和串联导线1022构造成电路回路。
62.图4是根据本发明的一示例性实施方式示出的覆晶薄膜和显示面板绑定状态下导线位置示意图。
63.在本发明实施方式中，在图4中，虚线框示意的是每个覆晶薄膜101和显示面板102在绑定状态下构造成的串联电路。
64.如图4所示，覆晶薄膜101和显示面板102的绑定状态下，覆晶薄膜101的多条第一绑定导线1016与显示面板102的多条第二绑定导线1023有效重叠。第一绑定导线1016和第二绑定导线1023的有效重叠，以保证覆晶薄膜101和显示面板102进行正常信号传输，并使覆晶薄膜101驱动显示面板102正常显示。
65.第一绑定导线1016和第二绑定导线1023有效重叠后，多条第一测试导线1011和多条第二测试导线1021电连接。并且覆晶薄膜101的第一测量引线1012和第二测量引线1013之间通过多条第一测试导线1011和多条第二测试导线1021电连接。
66.图5是根据本发明的一示例性实施方式示出的一种显示装置的覆晶薄膜和显示面
板绑定状态剖视图。
67.如图5所示，显示面板102包括薄膜晶体管基板1024和彩色滤光片基板1025。串联导线1022设置在显示面板102的薄膜晶体管基板1024上。在覆晶薄膜101与显示面板102绑定状态下，显示面板102的彩色滤光片基板1025覆盖串联导线1022的至少一部分。
68.在本发明实施方式中，显示面板102上的串联导线1022的大部分被彩色滤光片基板1025覆盖，避免串联导线1022暴露在外面受到损坏。串联导线1022损坏后，会导致无法通过损坏后的串联导线1022使多个覆晶薄膜101的第一测试导线1011和第二测试导线1021串联相连。
69.上述本发明实施方式的显示装置100中，在多个覆晶薄膜101和显示面板102的绑定状态下，通过串联导线1022使多个覆晶薄膜101之间实现串联相连。即，每条串联导线1022的第一端与覆晶薄膜101的第二端部1015的第一测试导线1011相连，每条串联导线1022的第二端与相邻的覆晶薄膜101的第一端部1014的第一测试导线1011相连。进而使多个覆晶薄膜101的任意两条测量引线相连。
70.当检查本发明实施方式的显示装置中多个覆晶薄膜101和显示面板102的绑定状态时，只需通过万用表对任意两条测量引线之间的电阻值进行测量，即可检查多个覆晶薄膜101在显示面板102上的绑定状态是否异常。
71.进一步的，本发明实施方式的第二方面提供了一种检查显示装置的导线绑定位置的方法，用于本发明实施方式中的显示装置100。
72.图6是根据本发明的示例性实施方式示出的一种检查绑定区导线绑定位置的方法流程图。
73.如图6所示，本发明实施方式中的一种检查绑定区导线绑定位置的方法包括以下步骤。
74.步骤s10，将多个覆晶薄膜101绑定在显示面板102和印刷电路板103上。
75.步骤s20，通过万用表测量多个覆晶薄膜101上的多条第一测量引线1012和第二测量引线1013中的任意两条测量引线之间的电阻值。
76.步骤s30，基于任意两条测量引线之间的电阻值，检查相应两条测量引线之间的覆晶薄膜101在显示面板102上的绑定异常。
77.其中，覆晶薄膜101在显示面板102上的绑定异常包括第一绑定导线1016与显示面板102的第二绑定导线1023之间水平绑定断开或竖直绑定断开以及发生竖直绑定位移等异常。当对绑定异常检查时，也可以检查发生绑定异常的覆晶薄膜101的具体位置。
78.在本发明实施方式中，当对多个覆晶薄膜101和显示面板102的绑定状态进行检查时，首先测量显示面板102上的间隔最远的两个端部覆晶薄膜101之间的两端电阻值。即，测量第一个覆晶薄膜101的第一测量引线1012和距离第一个覆晶薄膜101间隔最远的覆晶薄膜101的第二测量引线1013之间的两端电阻值。本发明实施方式中，覆晶薄膜101的第一测量引线1012和第二测量引线1013是为了检查覆晶薄膜101与显示面板102绑定状态而增设的辅助导线。
79.当测量的两端电阻值在正常两端电阻值的允许误差范围内时，则判断所有覆晶薄膜101的绑定均正常。即，每个覆晶薄膜101和显示面板102的绑定状态均正常，如图4所示。由此可以通过一个简单的步骤，即可快速判断所有覆晶薄膜101和显示面板102的绑定状
态。
80.在本发明实施方式中，由于每个覆晶薄膜101上的导线设置均相同，在与每个覆晶薄膜101相对应位置的显示面板102上的导线设置也相同。当单个覆晶薄膜101与显示面板102绑定状态正常时，通过万用表测得单个覆晶薄膜101的第一测量引线1012和第二测量引线1013之间的电阻值，测量的电阻值则为单个覆晶薄膜101的正常电阻值。多个覆晶薄膜101串联后的正常电阻值则为相应数量的覆晶薄膜101的正常电阻值之和。本发明实施方式中的允许误差范围可以根据实际产品的精确度需求预先进行设定。
81.图7是根据本发明的一示例性实施方式示出的覆晶薄膜和显示面板绑定状态的导线竖直绑定位移示意图。图8是根据本发明的一示例性实施方式示出的覆晶薄膜和显示面板绑定状态的导线水平绑定断开示意图。图9是根据本发明的一示例性实施方式示出的覆晶薄膜和显示面板绑定状态的导线竖直绑定断开示意图。
82.如图7所示，当每个覆晶薄膜101的第一测试导线1011与显示面板102的第二测试导线1021之间发生竖直绑定位移时，显示面板102的第二测试导线1021与覆晶薄膜101的第一测试导线1011只是表面接触，其接触面积变小，电流通路的横截面积变小。由于电阻值的大小与横截面积呈反比，相应的，第一测量引线1012和第二测量引线1013之间的电阻值则超出其正常电阻值的允许误差范围。因此，当使用万用表测量的第一测量引线1012和第二测量引线1013之间的电阻值超出其正常电阻值的允许误差范围并小于无穷大时，即可判断第一测试导线1011和第二测试导线1021之间发生竖直绑定位移。
83.如图8所示，覆晶薄膜101的第一测试导线1011与显示面板102的第二测试导线1021存在水平绑定断开，又或者如图9所示，覆晶薄膜101的第一测试导线1011与显示面板102的第二测试导线1021存在竖直绑定断开的情况下，第一测量引线1012和第二测量引线1013与第一测试导线1011和第二测试导线1021之间无法通过万用表形成闭合电路。因此，当使用万用表测量第一测量引线1012和第二测量引线1013之间的电阻值时，电阻值为无穷大，即可判断覆晶薄膜101存在水平绑定断开(如图8所示)或者竖直绑定断开(如图9所示)。由此，可以通过简单的步骤即可明确判断覆晶薄膜101与显示面板102之间的绑定存在断开。
84.在本发明实施方式中，结合图1所示，可通过万用表测量位于显示面板102上的间隔最远的两个端部覆晶薄膜101之间的两端电阻值，即第一个覆晶薄膜101的第一测量引线1012和距离第一个覆晶薄膜101间隔最远的覆晶薄膜101的第二测量引线1013之间的两端电阻值，将测量的两端电阻值与两端正常电阻值的允许误差范围进行对比，即可实现对显示装置100的整体绑定导线位置进行检查。
85.当测量的两端电阻值无穷大时或者超出两端正常电阻值的允许误差范围并小于无穷大时，判断覆晶薄膜101与显示面板102的绑定异常。当测量的两端电阻值在两端正常电阻值的允许误差范围内时，判断所有覆晶薄膜101与显示面板102的绑定正常。
86.在本发明实施方式中，当显示装置100中的覆晶薄膜101与显示面板102的绑定状态异常时，通过万用表可快速检查出发生绑定异常的覆晶薄膜101的位置。
87.如图1所示，为了便于对本实施方式进行说明，以显示装置100上设置有四个覆晶薄膜101的例子进行说明，但覆晶薄膜101的数量并不局限于此。与此相对应，在覆晶薄膜101的排列方向上，设置有四条第一测量引线1012和四条第二测量引线1013。为描述方便，
在图1所示的覆晶薄膜101的排列方向上，从左至右依次定义四个覆晶薄膜101分别为第一覆晶薄膜101，第二覆晶薄膜101，第三覆晶薄膜101，第四覆晶薄膜101。
88.在本发明实施方式中，当检查所有覆晶薄膜101与显示面板102的绑定状态时，如上所述，使用万用表测量出间隔最远的两个覆晶薄膜101(例如，本实施例中的第一覆晶薄膜101和第四覆晶薄膜101)之间的两端电阻值为无穷大时，判断覆晶薄膜101的绑定状态存在异常。此时，对所有覆晶薄膜101进行相应水平位移或竖直位移，以使所测量的电阻值落入其正常电阻值允许误差范围内。本发明实施方式，可使用万用表测量测量引线间的电阻值，进而实现检查发生绑定异常的具体位置并对绑定异常位置进行校准的目的。
89.进一步的，可采用二分法减少使用万用表对覆晶薄膜101的测量引线间电阻值的测量次数，快速检查出发生绑定异常的具体位置。
90.具体的，先使用万用表测量第一覆晶薄膜101的第一测量引线1012和第四覆晶薄膜101的第二测量引线1013之间的两端电阻值，测量的两端电阻值无穷大或者超出两端正常电阻值的允许误差范围并小于无穷大时，判断第一至第四覆晶薄膜101之间发生绑定异常。
91.进一步的，使用万用表测量第一覆晶薄膜101的第一测量引线1012与位于中间位置的覆晶薄膜101的测量引线(例如第二覆晶薄膜101的第二测量引线1013)之间的第一端中间电阻值。
92.当测量的第一端中间电阻值无穷大或者超出第一覆晶薄膜101的第一测量引线1012和第二覆晶薄膜101的第二测量引线1013之间的正常电阻值的允许误差范围并小于无穷大时，则绑定异常发生在第一覆晶薄膜101和第二覆晶薄膜101中。
93.当测量的第一端中间电阻值在第一覆晶薄膜101的第一测量引线1012和第二覆晶薄膜101的第二测量引线1013之间的正常电阻值允许误差范围内时，则所测量的测量引线之间的覆晶薄膜101绑定正常。换句话说，第一个覆晶薄膜101和位于中间位置的覆晶薄膜101的测量引线之间的绑定正常，即，所测量的两条测量引线之间的覆晶薄膜101的绑定正常，而绑定异常可能出现在未测量的部分。
94.本发明并不限于此，也可以使用万用表测量位于中间位置的覆晶薄膜101(例如第三覆晶薄膜101)的第一测量引线1012和第四覆晶薄膜101的第二测量引线1013之间的电阻值，当测量的电阻值无穷大或者超出第三覆晶薄膜101的第一测量引线1012和第四覆晶薄膜101的第二测量引线1013之间的正常电阻值的允许误差范围并小于无穷大时，判断绑定异常发生在第三覆晶薄膜101和第四覆晶薄膜101中。相反，测量的电阻值在第三覆晶薄膜101的第一测量引线1012和第四覆晶薄膜101的第二测量引线1013之间的正常电阻值的允许误差范围内时，判断所测量的测量引线之间的覆晶薄膜101的绑定正常。即，所测量的两条测量引线之间的覆晶薄膜101的绑定正常，而绑定异常可能出现在未测量的部分。
95.即，二分法，可以从第一覆晶薄膜101侧开始，也可以从第四覆晶薄膜101侧开始，只要能测量所有覆晶薄膜101的一半即可。
96.进一步的，在通过上述方法被确定为可能出现绑定异常的覆晶薄膜101中，再一次采用二分法进行测量。例如，当判断为第一覆晶薄膜101和第二覆晶薄膜101之间存在绑定异常时，则在第一覆晶薄膜101和第二覆晶薄膜101之间，再一次采用二分法进行测量。
97.例如，使用万用表测量第一覆晶薄膜101的第一测量引线1012和第二测量引线
1013之间的电阻值，当测量的电阻值在其正常电阻值的允许误差范围内时，判断第二覆晶薄膜101的绑定存在异常。反之，则判断第一覆晶薄膜101的绑定存在异常。
98.也可以测量第二覆晶薄膜101的第一测量引线1012和第二测量引线1013之间的电阻值，当测量的电阻值在其正常电阻值的允许误差范围内时，判断第一覆晶薄膜101的绑定存在异常。反之，则判断第二覆晶薄膜101的绑定存在异常。
99.例如，当判断为第三覆晶薄膜101和第四覆晶薄膜101之间存在绑定异常时，则在第三覆晶薄膜101和第四覆晶薄膜101之间，再一次采用二分法进行测量。
100.例如，使用万用表测量第三覆晶薄膜101的第一测量引线1012和第二测量引线1013之间的电阻值，当测量的电阻值在其正常电阻值的允许误差范围内时，判断第四覆晶薄膜101的绑定异常。反之，判断第三覆晶薄膜101的绑定存在异常。
101.也可以测量第四覆晶薄膜101的第一测量引线1012和第二测量引线1013之间的电阻值，当测量的电阻值在其正常电阻值的允许误差范围内时，判断第三覆晶薄膜101的绑定异常。反之，判断第四覆晶薄膜101的绑定存在异常。
102.以此类推，当多个覆晶薄膜101(大于4个时)与显示面板102的绑定状态异常时，可通过减少测量次数并快速找到绑定发生异常的覆晶薄膜101。
103.如上所述，在本发明实施方式中，显示装置100的覆晶薄膜101的数量越多，其实现快速检查覆晶薄膜101与显示面板102的绑定状态异常的效果越明显。同时，可明显减少测量覆晶薄膜101的两条测量引线间的次数即可快速确定绑定异常的具体位置。
104.例如，如下表1所示，当覆晶薄膜101的数量是4个时，确定绑定异常位置的测量次数为3次。当覆晶薄膜101的数量是8个时，确定绑定异常位置的测量次数为4次。当覆晶薄膜101的数量是10个时，确定绑定异常位置的测量次数为5次。当覆晶薄膜101的数量是16个时，确定绑定异常位置的测量次数为5次。当覆晶薄膜101的数量是20个时，确定绑定异常位置的测量次数为6次。即，二分法检查绑定异常位置所需次数，遵守公式[log2(n)]+1，n为大于或者等于1个。
[0105]
表1
[0106]
覆晶薄膜的个数绑定异常位置确定所需次数4384105165206
[0107]
如上所述，通过本发明的显示装置以及检查绑定区导线绑定位置的方法，可以以最少的测量次数，即可快速且准确地确定覆晶薄膜101的绑定异常与否，以及具体的绑定发生异常的覆晶薄膜101。
[0108]
可以理解的是，本发明中“多个”是指两个以上，其它量词与之类似。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，a和/或b，可以表示：单独存在a，同时存在a和b，单独存在b这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。
[0109]
进一步可以理解的是，术语“第一”、“第二”等用于描述各种信息，但这些信息不应
限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开，并不表示特定的顺序或者重要程度。实际上，“第一”、“第二”等表述完全可以互换使用。例如，在不脱离本发明范围的情况下，第一信息也可以被称为第二信息，类似地，第二信息也可以被称为第一信息。
[0110]
进一步可以理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“前”、“后”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实施方式和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作。
[0111]
进一步可以理解的是，除非有特殊说明，“连接”包括两者之间不存在其他构件的直接连接，也包括两者之间存在其他元件的间接连接。
[0112]
进一步可以理解的是，本发明实施方式中尽管在附图中以特定的顺序描述操作，但是不应将其理解为要求按照所示的特定顺序或是串行顺序来执行这些操作，或是要求执行全部所示的操作以得到期望的结果。在特定环境中，多任务和并行处理可能是有利的。
[0113]
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本发明的其它实施方案。本技术旨在涵盖本发明的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本发明的一般性原理并包括本发明未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施方式仅被视为示例性的，本发明的真正范围和精神由下面的权利要求指出。
[0114]
应当理解的是，本发明并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本发明的范围仅由所附的权利要求来限制。