1.本发明构思的实施例涉及一种显示装置，更具体地，涉及执行图像残留补偿操作的显示装置以及补偿显示装置中的图像残留的方法。
背景技术：
2.当显示装置(诸如有机发光二极管(oled)显示装置)随时间操作时，包括在显示装置中的像素的驱动晶体管和/或oled可能劣化。如果像素劣化，那么像素会不发射具有期望亮度的光，并且会感知到显示装置中的图像残留。为了减少或者消除由像素的劣化而引起的图像残留，显示装置可以执行图像残留补偿操作，该图像残留补偿操作对像素的累积劣化量进行计算并且基于累积劣化量补偿图像数据。
3.然而，在其中存储有累积劣化量的寿命存储器的写入操作或读取操作由于静电放电(esd)、存储器存取失败、硬件故障等而未被正常执行的情况下，会无法准确地执行图像残留补偿操作，会无法准确地补偿图像数据，因此显示装置的图像质量会劣化。
技术实现要素：
4.根据本发明构思的实施例，一种显示装置包括：显示面板，包括多个像素；数据驱动器，被配置为向多个像素提供数据信号；扫描驱动器，被配置为向多个像素提供扫描信号；以及控制器，被配置为控制数据驱动器和扫描驱动器。控制器包括易失性寿命存储器和内部寿命存储器，易失性寿命存储器被配置为存储多个像素的累积劣化量，内部寿命存储器被配置为存储基于累积劣化量生成的备份累积劣化量。控制器进一步被配置为通过选择性地使用存储在易失性寿命存储器中的累积劣化量或存储在内部寿命存储器中的备份累积劣化量来补偿输入图像数据。
5.在本发明构思的实施例中，控制器还可以包括图像残留补偿电路，易失性寿命存储器可以位于图像残留补偿电路外部，内部寿命存储器可以位于图像残留补偿电路内部。在第一帧中，图像残留补偿电路可以基于输入图像数据计算当前劣化量，可以通过累加当前劣化量来计算第一累积劣化量，可以将第一累积劣化量写入到易失性寿命存储器，可以基于第一累积劣化量生成备份累积劣化量，并且可以将备份累积劣化量写入到内部寿命存储器。在第二帧中，图像残留补偿电路可以从易失性寿命存储器读取第二累积劣化量，可以将从易失性寿命存储器读取的第二累积劣化量与在第一帧中计算出的第一累积劣化量进行比较，可以在从易失性寿命存储器读取的第二累积劣化量与在第一帧中计算出的第一累积劣化量基本相等的第一情况下通过使用从易失性寿命存储器读取的第二累积劣化量来在第二帧中补偿输入图像数据，并且可以在从易失性寿命存储器读取的第二累积劣化量不同于在第一帧中计算出的第一累积劣化量的第二情况下通过使用存储在内部寿命存储器中的备份累积劣化量来在第二帧中补偿输入图像数据。
6.在本发明构思的实施例中，图像残留补偿电路可以计算从易失性寿命存储器读取的第二累积劣化量的第一校验和，可以计算通过累加当前劣化量而计算出的第一累积劣化
量的第二校验和，并且可以通过将第一校验和与第二校验和进行比较来确定从易失性寿命存储器读取的第二累积劣化量是否与通过累加当前劣化量而计算出的第一累积劣化量基本相等。
7.在本发明构思的实施例中，可以以第一像素块为单位计算第一累积劣化量，可以以第二像素块为单位计算备份累积劣化量，并且第二像素块的尺寸可以比第一像素块的尺寸大。
8.在本发明构思的实施例中，图像残留补偿电路可以包括：内部寿命存储器；当前寿命计算器电路，被配置为在第一帧中将输入图像数据划分为对应于多个第一像素块的多个块图像数据，并且基于多个块图像数据计算多个第一像素块的当前劣化量；累积寿命计算器电路，被配置为通过累加多个第一像素块的当前劣化量来计算多个第一像素块的第一累积劣化量，将多个第一像素块的第一累积劣化量写入到易失性寿命存储器，通过将多个第一像素块的第一累积劣化量合并来生成多个第二像素块的备份累积劣化量，并且将多个第二像素块的备份累积劣化量写入到内部寿命存储器；数据补偿器电路，被配置为从易失性寿命存储器读取多个第一像素块的第二累积劣化量；以及寿命比较器电路，被配置为将由数据补偿器电路读取的第二累积劣化量与由累积寿命计算器电路计算出的第一累积劣化量进行比较，在由数据补偿器电路读取的第二累积劣化量与由累积寿命计算器电路计算出的第一累积劣化量基本相等的第一情况下生成具有第一电平的故障标志信号，以及在由数据补偿器电路读取的第二累积劣化量不同于由累积寿命计算器电路计算出的第一累积劣化量的第二情况下生成具有第二电平的故障标志信号。响应于具有第一电平的故障标志信号，数据补偿器电路可以通过使用多个第一像素块的第二累积劣化量来补偿输入图像数据。响应于具有第二电平的故障标志信号，数据补偿器电路可以从内部寿命存储器读取多个第二像素块的备份累积劣化量，并且可以通过使用多个第二像素块的备份累积劣化量来补偿输入图像数据。
9.在本发明构思的实施例中，多个第二像素块中的每个第二像素块的尺寸可以比多个第一像素块中的每个第一像素块的尺寸大。
10.在本发明构思的实施例中，寿命比较器电路可以计算由数据补偿器电路读取的第二累积劣化量的第一校验和，可以计算由累积寿命计算器电路计算出的第一累积劣化量的第二校验和，并且可以通过将第一校验和与第二校验和进行比较来生成故障标志信号。
11.在本发明构思的实施例中，图像残留补偿电路还可以包括：权重确定器电路，被配置为基于显示面板的驱动频率、显示面板的温度和多个第一像素块的位置中的至少一种来确定多个第一像素块的块劣化权重。
12.在本发明构思的实施例中，当前寿命计算器电路可以通过将块劣化权重应用于多个块图像数据来计算多个第一像素块的当前劣化量。
13.在本发明构思的实施例中，控制器还可以包括：预缩放电路，被配置为从图像残留补偿电路接收累积劣化量，基于接收的累积劣化量中的最大累积劣化量来确定预缩放系数，通过将预缩放系数应用于输入图像数据来生成预缩放输入图像数据，并且将预缩放输入图像数据提供到图像残留补偿电路。
14.在本发明构思的实施例中，显示装置还可以包括：非易失性寿命存储器，被配置为在显示装置断电时存储累积劣化量。
15.在本发明构思的实施例中，控制器可以将存储在易失性寿命存储器中的累积劣化量周期性地写入到非易失性寿命存储器。
16.根据本发明构思的实施例，在补偿显示装置中的图像残留的方法中，在第一帧中基于输入图像数据计算当前劣化量，通过累加当前劣化量来计算第一累积劣化量，将第一累积劣化量写入到位于图像残留补偿电路外部的易失性寿命存储器，基于第一累积劣化量生成备份累积劣化量，将备份累积劣化量写入到图像残留补偿电路的内部寿命存储器，在第二帧中从易失性寿命存储器读取第二累积劣化量，将从易失性寿命存储器读取的第二累积劣化量与通过累加当前劣化量而计算出的第一累积劣化量进行比较，以及通过根据比较的结果而选择性地使用从易失性寿命存储器读取的第二累积劣化量或存储在内部寿命存储器中的备份累积劣化量来在第二帧中补偿输入图像数据。
17.在本发明构思的实施例中，可以在从易失性寿命存储器读取的第二累积劣化量与通过累加当前劣化量而计算出的第一累积劣化量基本相等的第一情况下通过使用从易失性寿命存储器读取的第二累积劣化量来在第二帧中补偿输入图像数据，并且可以在从易失性寿命存储器读取的第二累积劣化量不同于通过累加当前劣化量而计算出的第一累积劣化量的第二情况下通过使用存储在内部寿命存储器中的备份累积劣化量来在第二帧中补偿输入图像数据。
18.在本发明构思的实施例中，可以计算从易失性寿命存储器读取的第二累积劣化量的第一校验和，可以计算通过累加当前劣化量而计算出的第一累积劣化量的第二校验和，并且可以通过将第一校验和与第二校验和进行比较来确定从易失性寿命存储器读取的第二累积劣化量是否与通过累加当前劣化量而计算出的第一累积劣化量基本相等。
19.在本发明构思的实施例中，可以以第一像素块为单位计算第一累积劣化量，可以以第二像素块为单位计算备份累积劣化量，并且第二像素块的尺寸可以比第一像素块的尺寸大。
20.在本发明构思的实施例中，可以在第一帧中将输入图像数据划分为对应于多个第一像素块的多个块图像数据，可以基于包括在显示装置中的显示面板的驱动频率、显示面板的温度和多个第一像素块的位置中的至少一种来确定多个第一像素块的块劣化权重，可以通过将块劣化权重应用于多个块图像数据来计算多个第一像素块的当前劣化量。
21.在本发明构思的实施例中，可以通过将多个第一像素块的第一累积劣化量合并来生成多个第二像素块的备份累积劣化量。
22.在本发明构思的实施例中，可以将存储在易失性寿命存储器中的第一累积劣化量周期性地写入到非易失性寿命存储器。
23.在本发明构思的实施例中，可以基于累积劣化量中的最大累积劣化量确定预缩放系数，并且可以将预缩放系数应用于输入图像数据。
24.根据本发明构思的实施例，一种补偿显示装置中的图像残留的方法包括：通过将预缩放系数应用于输入图像数据来生成预缩放输入图像数据，在第一帧中基于预缩放输入图像数据计算当前劣化量，通过累加当前劣化量来计算第一累积劣化量，将第一累积劣化量写入到第一存储器，基于第一累积劣化量生成备份累积劣化量，将备份累积劣化量写入到第二存储器，在第二帧中从第一存储器读取第二累积劣化量，将第二累积劣化量与第一累积劣化量进行比较，以及通过根据比较的结果而选择性地使用第二累积劣化量或备份累
积劣化量来在第二帧中补偿预缩放输入图像数据。
附图说明
25.通过参照附图详细地描述本发明构思的实施例，将更清楚地理解本发明构思的上述及其它特征。
26.图1是示出根据本发明构思的实施例的显示装置的框图。
27.图2是示出根据本发明构思的实施例的包括在图1的显示装置中的像素的电路图。
28.图3是示出根据本发明构思的实施例的包括在图1的显示装置中的图像残留补偿块的图。
29.图4是用于描述根据本发明构思的实施例的图3的图像残留补偿块的操作的时序图。
30.图5是用于描述根据本发明构思的实施例的为其计算当前劣化量和累积劣化量的多个第一像素块的图。
31.图6是用于描述根据本发明构思的实施例的为其计算备份累积劣化量的多个第二像素块的图。
32.图7是示出根据本发明构思的实施例的补偿图1的显示装置中的图像残留的方法的流程图。
33.图8是示出根据本发明构思的实施例的显示装置的框图。
34.图9是示出根据本发明构思的实施例的补偿图8的显示装置中的图像残留的方法的流程图。
35.图10是示出包括根据本发明构思的实施例的显示装置的电子设备的框图。
具体实施方式
36.本发明构思的实施例提供了一种能够准确地执行图像残留补偿操作的显示装置。
37.本发明构思的实施例也提供了一种补偿显示装置中的图像残留的方法，该方法能够准确地执行图像残留补偿操作。
38.在下文中，将参照附图详细地解释本发明构思的实施例。贯穿本技术，同样的附图标记可以表示同样的元件。
39.图1是示出根据本发明构思的实施例的显示装置的框图。图2是示出根据本发明构思的实施例的包括在图1的显示装置中的像素的电路图。图3是示出根据本发明构思的实施例的包括在图1的显示装置中的图像残留补偿块的图。图4是用于描述根据本发明构思的实施例的图3的图像残留补偿块的操作的时序图。图5是用于描述根据本发明构思的实施例的为其计算当前劣化量和累积劣化量的多个第一像素块的图。图6是用于描述根据本发明构思的实施例的为其计算备份累积劣化量的多个第二像素块的图。
40.参照图1，根据本发明构思的实施例的显示装置100可以包括显示面板110、数据驱动器120、扫描驱动器130和控制器150，显示面板110包括多个像素px，数据驱动器120向多个像素px提供数据信号ds，扫描驱动器130向多个像素px提供扫描信号ss，控制器150控制数据驱动器120和扫描驱动器130。在本发明构思的实施例中，显示装置100还可以包括非易失性寿命存储器140。
41.显示面板110可以包括多条数据线、多条扫描线以及结合到多条数据线和多条扫描线的多个像素px。在本发明构思的实施例中，显示面板110可以是有机发光二极管(oled)显示面板，其中，每个像素px包括oled。
42.例如，如图2中所示，每个像素px可以包括开关晶体管tsw、存储电容器cst、驱动晶体管tdr和有机发光二极管el，开关晶体管tsw响应于扫描线的扫描信号ss而将数据线的数据信号ds传输到存储电容器cst，存储电容器cst存储由开关晶体管tsw传输的数据信号ds，驱动晶体管tdr基于存储在存储电容器cst中的数据信号ds生成驱动电流，有机发光二极管el基于由驱动晶体管tdr生成的驱动电流发光。驱动晶体管tdr和有机发光二极管el可以连接在高电源电压elvdd与低电源电压elvss之间。在本发明构思的实施例中，如图2中所示，开关晶体管tsw和驱动晶体管tdr可以用nmos晶体管实现，但是不限于此。
43.根据本发明构思的实施例的像素px的构造不限于图2的示例，并且根据本发明构思的实施例的像素px可以具有各种构造。在本发明构思的实施例中，显示面板110可以是无机发光二极管显示面板、量子点发光二极管显示面板、液晶显示(lcd)面板或任何其它合适的显示面板。
44.返回参照图1，数据驱动器120可以基于从控制器150接收的输出图像数据odat和数据控制信号dctrl生成数据信号ds，并且可以通过多条数据线向多个像素px提供数据信号ds。在本发明构思的实施例中，数据控制信号dctrl可以包括但是不限于输出数据使能信号、水平起始信号和负载信号。在本发明构思的实施例中，数据驱动器120可以用与控制器150的集成电路分离的一个或更多个集成电路实现。在本发明构思的实施例中，数据驱动器120和控制器150可以用单个集成电路实现，并且该单个集成电路可以被称为时序控制器嵌入式数据驱动器(ted)集成电路。
45.扫描驱动器130可以基于从控制器150接收的扫描控制信号sctrl生成扫描信号ss，并且可以基于扫描控制信号sctrl逐行地向多个像素px顺序地提供扫描信号ss。在本发明构思的实施例中，扫描控制信号sctrl可以包括但是不限于扫描起始信号和扫描时钟信号。在本发明构思的实施例中，扫描驱动器130可以集成或者形成在显示面板110的外围部分中。在本发明构思的实施例中，扫描驱动器130可以用一个或更多个集成电路实现。
46.非易失性寿命存储器140可以存储显示面板110的多个像素px的累积劣化量，并且即使在显示装置100断电时也可以保持或者维持存储的累积劣化量。在本发明构思的实施例中，如图5中所示，显示面板110可以被划分为均包括多个像素px的多个第一像素块bl1，并且非易失性寿命存储器140可以存储分别对应于多个第一像素块bl1的累积劣化量。
47.此外，在本发明构思的实施例中，当显示装置100通电时，控制器150可以从非易失性寿命存储器140读取累积劣化量，并且可以将累积劣化量写入或者存储到易失性寿命存储器170。易失性寿命存储器170可以被称为第一存储器。控制器150的图像残留补偿块200可以从易失性寿命存储器170读取累积劣化量，可以在显示装置100操作时针对每一帧更新累积劣化量，并且可以针对每一帧将更新的累积劣化量写入到易失性寿命存储器170。根据本发明构思的实施例，图像残留补偿块200可以是电路。
48.此外，控制器150可以周期性地将存储在易失性寿命存储器170中的累积劣化量写入到非易失性寿命存储器140。例如，可以每约五分钟到约十分钟将存储在易失性寿命存储器170中的累积劣化量写入到非易失性寿命存储器140，但是非易失性寿命存储器140的写
入操作的周期不限于此。以这种方式，显示装置100可以计算并存储分别对应于多个第一像素块bl1的累积劣化量，其中，所述累积劣化量是在从显示装置100被制造的时间点到当前时间点的时间段内累积的。在本发明构思的实施例中，非易失性寿命存储器140可以用但是不限于闪存来实现。
49.控制器150(例如，时序控制器(tcon))可以从外部主机处理器(例如，图形处理单元(gpu)、应用处理器(ap)或图形卡)接收输入图像数据idat和控制信号ctrl。在本发明构思的实施例中，输入图像数据idat可以是包括红色图像数据、绿色图像数据和蓝色图像数据的rgb图像数据。在本发明构思的实施例中，控制信号ctrl可以包括但是不限于垂直同步信号、水平同步信号、输入数据使能信号、主时钟信号等。此外，控制器150可以通过基于累积劣化量补偿输入图像数据idat来生成输出图像数据odat。控制器150可以通过将输出图像数据odat和数据控制信号dctrl提供到数据驱动器120来控制数据驱动器120的操作，并且可以通过将扫描控制信号sctrl提供到扫描驱动器130来控制扫描驱动器130的操作。
50.在根据本发明构思的实施例的显示装置100中，为了执行图像残留补偿操作，控制器150可以包括易失性寿命存储器170和图像残留补偿块200。
51.易失性寿命存储器170可以在显示装置100通电时存储从非易失性寿命存储器140读取的累积劣化量，并且可以将读取的累积劣化量提供到图像残留补偿块200。此外，当显示装置100操作时，易失性寿命存储器170可以从图像残留补偿块200接收并存储在每一帧中更新的累积劣化量，并且可以在每一帧中将存储的累积劣化量提供到图像残留补偿块200。在本发明构思的实施例中，易失性寿命存储器170的累积劣化量可以被周期性地写入到非易失性寿命存储器140。在本发明构思的实施例中，易失性寿命存储器170可以用但是不限于静态随机存取存储器(sram)、动态随机存取存储器(dram)等来实现。
52.图像残留补偿块200可以包括内部寿命存储器210。内部寿命存储器210可以被称为第二存储器。在第一帧(例如，当前帧)中，图像残留补偿块200可以基于输入图像数据idat计算当前劣化量，可以通过累加当前劣化量(以及通过易失性寿命存储器170从非易失性寿命存储器140读取的累积劣化量)来计算累积劣化量，可以将累积劣化量写入到易失性寿命存储器170，并基于累积劣化量生成备份累积劣化量，并且可以将备份累积劣化量写入到内部寿命存储器210。
53.此外，在第二帧(例如，后一帧)中，图像残留补偿块200可以从易失性寿命存储器170读取累积劣化量，可以将从易失性寿命存储器170读取的累积劣化量与在第一帧中通过累加当前劣化量而计算出的累积劣化量进行比较，并且可以通过根据比较的结果而选择性地使用从易失性寿命存储器170读取的累积劣化量或存储在内部寿命存储器210中的备份累积劣化量来在第二帧中补偿输入图像数据idat(例如，可以通过根据比较的结果而选择性地使用从易失性寿命存储器170读取的累积劣化量和存储在内部寿命存储器210中的备份累积劣化量中的一者来在第二帧中补偿输入图像数据idat)。
54.在本发明构思的实施例中，为了执行这些操作，如图3中所示，图像残留补偿块200可以包括内部寿命存储器210、当前寿命计算器220、累积寿命计算器230、数据补偿器240和寿命比较器250。在本发明构思的实施例中，图像残留补偿块200还可以包括权重确定器260。在本发明构思的实施例中，当前寿命计算器220、累积寿命计算器230、数据补偿器240、寿命比较器250和权重确定器260可以为电路。
55.当前寿命计算器220可以在第一帧(例如，当前帧)中将输入图像数据idat划分为对应于图5中所示的多个第一像素块bl1的多个块图像数据，并且可以基于多个块图像数据来计算多个第一像素块bl1的当前劣化量cda。例如，每个第一像素块bl1可以具有但是不限于四个像素px乘四个像素px的尺寸、八个像素px乘八个像素px的尺寸等。在本发明构思的实施例中，随着每个第一像素块bl1的块图像数据增加，第一像素块bl1的当前劣化量cda可以增加。例如，当前寿命计算器220可以通过对包括在第一像素块bl1的块图像数据中的像素图像数据(例如，十六个、六十四个像素图像数据等)求和来计算第一像素块bl1的当前劣化量cda，但是当前寿命计算器220的计算不限于此。
56.在本发明构思的实施例中，当前寿命计算器220可以从权重确定器260接收多个第一像素块bl1的块劣化权重bdw，并且可以通过将块劣化权重bdw应用于多个块图像数据来计算多个第一像素块bl1的当前劣化量cda。在本发明构思的实施例中，权重确定器260可以基于显示面板110的驱动频率、显示面板110的温度和多个第一像素块bl1的位置中的至少一种来确定多个第一像素块bl1的块劣化权重bdw。例如，当前寿命计算器220可以随着显示面板110的驱动频率增大而增大块劣化权重bdw。
57.此外，例如，权重确定器260可以包括根据显示面板110的温度和多个第一像素块bl1的位置存储块劣化权重bdw的权重查找表，并且可以通过使用权重查找表来确定多个第一像素块bl1的块劣化权重bdw。在本发明构思的实施例中，当前寿命计算器220可以通过对第一像素块bl1的像素图像数据求和来计算每个第一像素块bl1的中间当前劣化量，可以通过将中间当前劣化量乘以第一像素块bl1的块劣化权重bdw来计算第一像素块bl1的最终当前劣化量，并且可以输出最终当前劣化量作为第一像素块bl1的当前劣化量cda。
58.累积寿命计算器230可以通过累加多个第一像素块bl1的当前劣化量cda来计算多个第一像素块bl1的累积劣化量cada。在本发明构思的实施例中，累积寿命计算器230可以在显示装置100通电时通过易失性寿命存储器170从非易失性寿命存储器140读取先前驱动时段中的先前累积劣化量，并且可以将相应帧中的当前劣化量cda与先前累积劣化量相加，以计算从显示装置被制造时直到当前驱动时段中的相应帧的累积劣化量cada。
59.累积寿命计算器230可以将多个第一像素块bl1的累积劣化量cada写入到易失性寿命存储器170。在本发明构思的实施例中，存储在易失性寿命存储器170中的累积劣化量cada可以被数据补偿器240读取以在第二帧(例如，后一帧)中补偿输入图像数据idat，并且/或者可以被累积寿命计算器230再次读取以在第二帧(例如，后一帧)中计算累积劣化量cada。
60.此外，累积寿命计算器230可以基于多个第一像素块bl1的累积劣化量cada生成如图6中所示的多个第二像素块bl2的备份累积劣化量bada，并且可以将多个第二像素块bl2的备份累积劣化量bada写入到内部寿命存储器210。在本发明构思的实施例中，如图5和图6中所示，每个第二像素块bl2的尺寸可以比每个第一像素块bl1的尺寸大。
61.例如，每个第一像素块bl1可以具有但是不限于四个像素px乘四个像素px的尺寸、八个像素px乘八个像素px的尺寸等。此外，例如，显示面板110可以被划分为但是不限于18
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16个第二像素块bl2，并且每个第二像素块bl2可以具有但是不限于240个像素px乘120个像素px的尺寸。因此，由于以第一像素块bl1为单位计算累积劣化量cada并且以具有比第一像素块bl1的尺寸大的尺寸的第二像素块bl2为单位计算备份累积劣化量bada，因此备份累
积劣化量bada的数据大小可以小于累积劣化量cada的数据大小。因此，图像残留补偿块200的内部寿命存储器210可以具有比易失性寿命存储器170的尺寸小的尺寸，因此，可以适合于形成在图像残留补偿块200内部。
62.在本发明构思的实施例中，为了生成具有小于累积劣化量cada的数据大小的数据大小的备份累积劣化量bada，累积寿命计算器230可以通过将多个第一像素块bl1的累积劣化量cada合并来生成多个第二像素块bl2的备份累积劣化量bada。
63.数据补偿器240可以在第二帧(例如，后一帧)的初始时段中从易失性寿命存储器170读取多个第一像素块bl1的累积劣化量rada。此外，在第二帧的初始时段中，寿命比较器250可以将由数据补偿器240从易失性寿命存储器170读取的累积劣化量rada(其在第一帧中写入到易失性寿命存储器170)与由累积寿命计算器230在第一帧中计算出的累积劣化量cada进行比较。
64.在本发明构思的实施例中，寿命比较器250可以计算从易失性寿命存储器170读取的累积劣化量rada的第一校验和，可以计算由累积寿命计算器230计算出的累积劣化量cada的第二校验和，并且可以通过将第一校验和与第二校验和进行比较来确定从易失性寿命存储器170读取的累积劣化量rada是否与由累积寿命计算器230计算出的累积劣化量cada基本相等。
65.此外，寿命比较器250可以通过将第一校验和与第二校验和进行比较来生成故障标志信号ffs。例如，寿命比较器250可以在第一校验和与第二校验和基本相等的情况下或者在读取的累积劣化量rada与计算出的累积劣化量cada基本相等的情况下生成具有第一电平(例如，高电平)的故障标志信号ffs，并且可以在第一校验和不同于第二校验和的情况下或者在读取的累积劣化量rada不同于计算出的累积劣化量cada的情况下生成具有第二电平(例如，低电平)的故障标志信号ffs。
66.在读取的累积劣化量rada与计算出的累积劣化量cada基本相等的情况下，数据补偿器240可以通过使用从易失性寿命存储器170读取的多个第一像素块bl1的累积劣化量rada来补偿输入图像数据idat。在本发明构思的实施例中，数据补偿器240可以包括根据灰度级和劣化量存储补偿系数的寿命补偿查找表，可以从寿命补偿查找表获得多个第一像素块bl1的与由输入图像数据idat和读取的累积劣化量rada表示的灰度级对应的补偿系数，并且可以通过将多个第一像素块bl1的补偿系数应用于输入图像数据idat来生成输出图像数据odat。
67.此外，在读取的累积劣化量rada不同于计算出的累积劣化量cada的情况下，数据补偿器240可以通过使用存储在内部寿命存储器210中的备份累积劣化量bada来补偿输入图像数据idat。例如，数据补偿器240可以从寿命补偿查找表获得多个第二像素块bl2的与由输入图像数据idat和备份累积劣化量bada表示的灰度级对应的补偿系数，并且可以通过将多个第二像素块bl2的补偿系数应用于输入图像数据idat来生成输出图像数据odat。
68.在本发明构思的实施例中，数据补偿器240可以从寿命比较器250接收故障标志信号ffs，并且可以响应于具有第一电平的故障标志信号ffs而通过使用多个第一像素块bl1的累积劣化量rada来补偿输入图像数据idat。此外，响应于具有第二电平的故障标志信号ffs，数据补偿器240可以从内部寿命存储器210读取多个第二像素块bl2的备份累积劣化量bada，并且可以通过使用多个第二像素块bl2的备份累积劣化量bada来补偿输入图像数据
idat。
69.由于每个第二像素块bl2的尺寸比每个第一像素块bl1的尺寸大，所以使用备份累积劣化量bada的图像残留补偿操作相比于使用累积劣化量rada的图像残留补偿操作可以不是精细的或者可以是粗略的。然而，由于使用备份累积劣化量bada的图像残留补偿操作仅在故障标志信号ffs具有第一电平的时段中执行，或者仅在非易失性寿命存储器140和/或易失性寿命存储器170的写入操作或读取操作由于静电放电(esd)、存储器存取失败、硬件故障等而不能正常地执行的时段中执行，因此显示装置的图像质量不会过度劣化。
70.在下文中，将在下面参照图1至图6描述图像残留补偿块200的操作的示例。
71.参照图1至图6，在第n帧fn中(其中，n是大于1的整数)，当前寿命计算器220可以基于第n帧fn中的输入图像数据idat来计算多个第一像素块bl1的在第n帧fn中的当前劣化量cdan，并且累积寿命计算器230可以通过将第n帧fn中的当前劣化量cdan与第n-1帧fn-1中的累积劣化量adan-1相加来计算多个第一像素块bl1的在第n帧fn中的累积劣化量adan。
72.在示例中，累积寿命计算器230可以在第n-1帧fn-1中存储累积劣化量adan-1，并且可以通过将第n帧fn中的当前劣化量cdan与存储的累积劣化量adan-1相加来计算第n帧fn中的累积劣化量adan。在另一示例中，累积寿命计算器230可以在第n帧fn的起始时间点从易失性寿命存储器170读取第n-1帧fn-1中的累积劣化量adan-1，并且可以通过将第n帧fn中的当前劣化量cdan与读取的累积劣化量adan-1相加来计算第n帧fn中的累积劣化量adan。累积寿命计算器230可以将多个第一像素块bl1的在第n帧fn中的累积劣化量adan写入到易失性寿命存储器170。此外，累积寿命计算器230可以基于多个第一像素块bl1的在第n帧fn中的累积劣化量adan来生成多个第二像素块bl2的在第n帧fn中的备份累积劣化量badan，并且可以将多个第二像素块bl2的在第n帧fn中的备份累积劣化量badan写入到内部寿命存储器210。
73.在第n+1帧fn+1的初始时段中，数据补偿器240可以从易失性寿命存储器170读取第n帧fn中的累积劣化量adan，并且寿命比较器250可以将由数据补偿器240读取的第n帧fn中的累积劣化量adan与由累积寿命计算器230计算的第n帧fn中的累积劣化量adan进行比较。
74.在由数据补偿器240读取的第n帧fn中的累积劣化量adan与由累积寿命计算器230计算出的第n帧fn中的累积劣化量adan基本相同的情况下，数据补偿器240可以通过使用从易失性寿命存储器170读取的多个第一像素块bl1的在第n帧fn中的累积劣化量adan来补偿第n+1帧fn+1中的输入图像数据idat。
75.在由数据补偿器240读取的第n帧fn中的累积劣化量adan不同于由累积寿命计算器230计算出的第n帧fn中的累积劣化量adan的情况下，数据补偿器240可以从内部寿命存储器210读取多个第二像素块bl2的在第n帧fn中的备份累积劣化量badan，并且可以通过使用多个第二像素块bl2的在第n帧fn中的备份累积劣化量badan来补偿第n+1帧fn+1中的输入图像数据idat。
76.此外，在第n+1帧fn+1中，当前寿命计算器220可以计算第n+1帧fn+1中的当前劣化量cdan+1。此外，累积寿命计算器230可以通过将第n+1帧fn+1中的当前劣化量cdan+1与第n帧fn中的累积劣化量adan相加来计算第n+1帧fn+1中的累积劣化量adan+1，可以将第n+1帧fn+1中的累积劣化量adan+1写入到易失性寿命存储器170，可以生成第n+1帧fn+1中的备份
累积劣化量badan+1，并且可以将第n+1帧fn+1中的备份累积劣化量badan+1写入到内部寿命存储器210。
77.在执行图像残留补偿操作的传统显示装置中，在非易失性寿命存储器和/或易失性寿命存储器的写入操作或读取操作由于静电放电(esd)、存储器存取失败、硬件故障等而不能正常地执行的情况下，会基于不准确的累积劣化量来补偿输入图像数据，并且传统显示装置的图像质量会劣化。
78.然而，在根据本发明构思的实施例的显示装置100中，图像残留补偿块200可以具有内部寿命存储器210，可以通过对当前劣化量cda进行累加来计算累积劣化量cada，可以从位于图像残留补偿块200外部的易失性寿命存储器170读取累积劣化量rada，可以将计算出的累积劣化量cada与读取的累积劣化量rada进行比较，并且可以通过根据比较的结果而选择性地使用读取的累积劣化量rada或存储在内部寿命存储器210中的备份累积劣化量bada来补偿输入图像数据idat。因此，即使位于图像残留补偿块200外部的易失性寿命存储器170和/或非易失性寿命存储器140的写入操作或读取操作由于esd、存储器存取失败、硬件故障等而不能正常地执行，也可以通过使用内部寿命存储器210的备份累积劣化量bada来准确地执行图像残留补偿操作。
79.图7是示出根据本发明构思的实施例的补偿图1的显示装置中的图像残留的方法的流程图。
80.参照图1、图3和图7，在第一帧(例如，当前帧)中，图像残留补偿块200的当前寿命计算器220可以基于输入图像数据idat计算当前劣化量cda(s310)。在本发明构思的实施例中，当前寿命计算器220可以在第一帧中将输入图像数据idat划分为对应于多个第一像素块bl1的多个块图像数据，图像残留补偿块200的权重确定器260可以基于显示面板110的驱动频率、显示面板110的温度和多个第一像素块bl1的位置中的至少一种来确定多个第一像素块bl1的块劣化权重bdw，当前寿命计算器220可以通过将块劣化权重bdw应用于多个块图像数据来计算多个第一像素块bl1的当前劣化量cda。
81.图像残留补偿块200的累积寿命计算器230可以通过累加当前劣化量cda来计算累积劣化量cada(s320)。累积寿命计算器230可以将累积劣化量cada写入到位于图像残留补偿块200外部的易失性寿命存储器170(s330)。在本发明构思的实施例中，存储在易失性寿命存储器170中的累积劣化量cada可以被周期性地写入到非易失性寿命存储器140。
82.累积寿命计算器230可以基于累积劣化量cada生成备份累积劣化量bada(s340)，并且可以将备份累积劣化量bada写入到图像残留补偿块200的内部寿命存储器210(s350)。在本发明构思的实施例中，累积寿命计算器230可以通过将多个第一像素块bl1的累积劣化量cada合并来生成多个第二像素块bl2的备份累积劣化量bada。此外，在本发明构思的实施例中，可以以第一像素块bl1为单位计算累积劣化量cada，可以以第二像素块bl2为单位计算备份累积劣化量bada，并且第二像素块bl2的尺寸可以比第一像素块bl1的尺寸大。因此，备份累积劣化量bada的数据大小可以小于累积劣化量cada的数据大小，并且图像残留补偿块200的内部寿命存储器210可以具有比易失性寿命存储器170的尺寸小的尺寸。
83.在第二帧(例如，后一帧)中，图像残留补偿块200的数据补偿器240可以从易失性寿命存储器170读取累积劣化量rada(s360)，并且图像残留补偿块200的寿命比较器250可以将从易失性寿命存储器170读取的累积劣化量rada与通过累加当前劣化量cda而计算出
的累积劣化量cada进行比较(s370)。在本发明构思的实施例中，寿命比较器250可以计算从易失性寿命存储器170读取的累积劣化量rada的第一校验和，可以计算通过累加当前劣化量cda而计算出的累积劣化量cada的第二校验和，并且可以通过将第一校验和与第二校验和进行比较来确定从易失性寿命存储器170读取的累积劣化量rada是否与通过累加当前劣化量cda而计算出的累积劣化量cada基本相等。
84.数据补偿器240可以通过根据比较的结果而选择性地使用从易失性寿命存储器170读取的累积劣化量rada或存储在内部寿命存储器210中的备份累积劣化量bada来在第二帧中补偿输入图像数据idat(s370、s380和s390)。例如，在从易失性寿命存储器170读取的累积劣化量rada与通过累加当前劣化量cda而计算出的累积劣化量cada基本相等的情况下(s370：是)，数据补偿器240可以通过使用从易失性寿命存储器170读取的累积劣化量rada来在第二帧中补偿输入图像数据idat(s380)。此外，在从易失性寿命存储器170读取的累积劣化量rada不同于通过累加当前劣化量cda而计算出的累积劣化量cada的情况下(s370：否)，数据补偿器240可以通过使用存储在内部寿命存储器210中的备份累积劣化量bada来在第二帧中补偿输入图像数据idat(s390)。
85.如上所述，在根据本发明构思的实施例的补偿显示装置100中的图像残留的方法中，图像残留补偿块200可以具有内部寿命存储器210，可以通过累加当前劣化量cda来计算累积劣化量cada，可以从位于图像残留补偿块200外部的易失性寿命存储器170读取累积劣化量rada，可以将计算出的累积劣化量cada与读取的累积劣化量rada进行比较，并且可以通过根据比较的结果而选择性地使用读取的累积劣化量rada或存储在内部寿命存储器210中的备份累积劣化量bada来补偿输入图像数据idat。因此，即使针对位于图像残留补偿块200外部的易失性寿命存储器170和/或非易失性寿命存储器140的写入操作或读取操作由于esd、存储器存取失败、硬件故障等而不能正常地执行，也可以通过使用内部寿命存储器210的备份累积劣化量bada来准确地执行图像残留补偿操作。
86.图8是示出根据本发明构思的实施例的显示装置的框图。
87.参照图8，根据本发明构思的实施例的显示装置400可以包括显示面板410、数据驱动器420、扫描驱动器430、非易失性寿命存储器440和控制器450。控制器450可以包括易失性寿命存储器470、预缩放块490和图像残留补偿块500。图像残留补偿块500可以包括内部寿命存储器510。除了控制器450还可以包括预缩放块490之外，图8的显示装置400可以具有与图1的显示装置100相似的配置和相似的操作。在本发明构思的实施例中，预缩放块490可以为电路。
88.预缩放块490可以从图像残留补偿块500接收累积劣化量，可以基于累积劣化量中的最大累积劣化量来确定预缩放系数，可以通过将预缩放系数应用于输入图像数据idat来生成预缩放输入图像数据psidat，并且可以将预缩放输入图像数据psidat提供到图像残留补偿块500。在本发明构思的实施例中，预缩放块490可以基于最大累积劣化量生成从输入图像数据idat减小的预缩放输入图像数据psidat，并且图像残留补偿块500可以通过基于累积劣化量而增大预缩放输入图像数据psidat来生成输出图像数据odat。因此，即使输入图像数据idat表示最大灰度级(例如，255灰度级)，由于输入图像数据idat被预缩放为从输入图像数据idat减小的预缩放输入图像数据psidat，因此也可以正常地执行根据累积劣化量而增大预缩放输入图像数据psidat的图像残留补偿操作。
89.图9是示出根据本发明构思的实施例的补偿图8的显示装置中的图像残留的方法的流程图。
90.参照图8和图9，在第一帧(例如，当前帧)中，预缩放块490可以从图像残留补偿块500接收累积劣化量，可以基于累积劣化量的最大累积劣化量确定预缩放系数，并且可以通过将预缩放系数应用于输入图像数据idat来生成预缩放输入图像数据psidat(s605)。图像残留补偿块500可以在第一帧中基于预缩放输入图像数据psidat计算当前劣化量(s610)，可以通过累加当前劣化量来计算累积劣化量(s620)，并且可以将累积劣化量写入到位于图像残留补偿块500外部的易失性寿命存储器470(s630)。此外，图像残留补偿块500可以基于累积劣化量生成备份累积劣化量(s640)，并且可以将备份累积劣化量写入到图像残留补偿块500的内部寿命存储器510(s650)。
91.在第二帧(例如，后一帧)中，图像残留补偿块500可以从易失性寿命存储器470读取累积劣化量(s660)。在从易失性寿命存储器470读取的累积劣化量与通过累加当前劣化量而计算出的累积劣化量基本相等的情况下(s670：是)，图像残留补偿块500可以通过使用从易失性寿命存储器470读取的累积劣化量来在第二帧中补偿预缩放输入图像数据psidat(s680)。另一方面，在从易失性寿命存储器470读取的累积劣化量不同于通过累加当前劣化量而计算出的累积劣化量的情况下(s670：否)，图像残留补偿块500可以通过使用存储在内部寿命存储器510中的备份累积劣化量来在第二帧中补偿预缩放输入图像数据psidat(s690)。
92.图10是示出包括根据本发明构思的实施例的显示装置的电子设备的框图。
93.参照图10，电子设备1100可以包括处理器1110、存储器装置1120、存储装置1130、输入/输出(i/o)装置1140、电源1150和显示装置1160。电子设备1100还可以包括用于与视频卡、声卡、存储器卡、通用串行总线(usb)装置、其它电子设备等通信的多个端口。
94.处理器1110可以执行各种计算功能或任务。处理器1110可以是应用处理器(ap)、微处理器、中央处理单元(cpu)等。处理器1110可以经由地址总线、控制总线、数据总线等结合到其它组件。此外，在本发明构思的实施例中，处理器1110还可以结合到扩展总线(诸如外围组件互连(pci)总线)。
95.存储器装置1120可以存储用于电子设备1100的操作的数据。例如，存储器装置1120可以包括至少一个非易失性存储器装置(诸如可擦除可编程只读存储器(eprom)装置、电可擦除可编程只读存储器(eeprom)装置、闪存装置、相变随机存取存储器(pram)装置、电阻随机存取存储器(rram)装置、纳米浮栅存储器(nfgm)装置、聚合物随机存取存储器(poram)装置、磁性随机存取存储器(mram)装置、铁电随机存取存储器(fram)装置等)和/或至少一个易失性存储器装置(诸如动态随机存取存储器(dram)装置、静态随机存取存储器(sram)装置、移动dram装置等)。
96.存储装置1130可以是固态驱动器(ssd)装置、硬盘驱动器(hdd)装置、cd-rom装置等。i/o装置1140可以是输入装置(诸如键盘、小键盘、鼠标、触摸屏等)和输出装置(诸如打印机、扬声器等)。电源1150可以为电子设备1100的操作供电。显示装置1160可以通过总线或其它通信链路结合到其它组件。
97.在显示装置1160中，图像残留补偿块可以具有内部寿命存储器，可以通过累加当前劣化量来计算累积劣化量，可以从位于图像残留补偿块外部的易失性寿命存储器读取累
积劣化量，可以将计算出的累积劣化量与读取的累积劣化量进行比较，并且可以通过根据比较的结果而选择性地使用读取的累积劣化量或存储在内部寿命存储器中的备份累积劣化量来补偿输入图像数据。因此，即使位于图像残留补偿块外部的易失性和/或非易失性寿命存储器的写入操作或读取操作由于静电放电(esd)、存储器存取失败、硬件故障等而不能正常地执行，也可以通过使用内部寿命存储器的备份累积劣化量来准确地执行图像残留补偿操作。
98.本发明构思可以应用于包括显示装置的任何电子设备。例如，本发明构思可以应用于电视(tv)、数字tv、3d tv、智能电话、可穿戴电子设备、平板计算机、移动电话、个人计算机(pc)、家用电器、膝上型计算机、个人数字助理(pda)、便携式多媒体播放器(pmp)、数码相机、音乐播放器、便携式游戏机、导航装置等。
99.如上所述，在根据本发明构思的实施例的显示装置和补偿显示装置中的图像残留的方法中，图像残留补偿块可以具有内部寿命存储器，可以通过累加当前劣化量来计算累积劣化量，可以从位于图像残留补偿块外部的易失性寿命存储器读取累积劣化量，可以将计算出的累积劣化量与读取的累积劣化量进行比较，并且可以通过根据比较的结果而选择性地使用读取的累积劣化量或存储在内部寿命存储器中的备份累积劣化量来补偿输入图像数据。因此，即使位于图像残留补偿块外部的易失性和/或非易失性寿命存储器的写入操作或读取操作由于静电放电(esd)、存储器存取失败、硬件故障等而不能正常地执行，也可以通过使用内部寿命存储器的备份累积劣化量来准确地执行图像残留补偿操作。
100.虽然已经参考本发明构思的实施例示出并描述了本发明构思，但是对于本领域普通技术人员明显的是，可以在不脱离如由所附权利要求阐述的本发明构思的精神和范围的情况下对本发明构思进行形式和细节上的各种修改。