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专利摘要

本发明公开了一种基于宏观声学理论的纳米声学效应分析方法,包括以下步骤:一、不同尺度延迟线型声表面波器件的获取;二、不同尺度延迟线型声表面波器件的参数测试;三、不同尺度延迟线型声表面波器件宏观声学理论计算值的获取及参数误差获取;四、宏观声学理论失效判断以及失效阈值确定。
本发明步骤简单,设计合理且实现方便,通过对不同尺度延迟线型声表面波器件的参数测量值与不同尺度延迟线型声表面波器件的参数的宏观声学理论计算值分析,获取宏观声学理论失效时延迟线型声表面波器件对应的失效波长阈值,可有力推动声学器件纳米声学效应的研究。

专利状态

基础信息

专利号
CN201910119562.0
申请日
2019-02-18
公开日
2019-06-14
公开号
CN109883983A
主分类号
/B/B81/ 作业;运输
标准类别
微观结构技术
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
审查中-实审

发明人

张涛 柯贤桐 朱寒 曹晓闯 吴利娜 张晶园

申请人

西安科技大学

申请人地址

710054 陕西省西安市雁塔中路58号

专利摘要

本发明公开了一种基于宏观声学理论的纳米声学效应分析方法,包括以下步骤:一、不同尺度延迟线型声表面波器件的获取;二、不同尺度延迟线型声表面波器件的参数测试;三、不同尺度延迟线型声表面波器件宏观声学理论计算值的获取及参数误差获取;四、宏观声学理论失效判断以及失效阈值确定。
本发明步骤简单,设计合理且实现方便,通过对不同尺度延迟线型声表面波器件的参数测量值与不同尺度延迟线型声表面波器件的参数的宏观声学理论计算值分析,获取宏观声学理论失效时延迟线型声表面波器件对应的失效波长阈值,可有力推动声学器件纳米声学效应的研究。

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