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专利摘要

公开了用于制造具有黑色表面的微电子器件的工艺和微电子器件。
一种用于制造黑硅表面的工艺,该工艺包括多个粗糙化循环,每个粗糙化循环包括:在硅体的区域上沉积非平面聚合物层;以及以非单向方式对该聚合物层和该硅体的该区域进行等离子体蚀刻,并以非均匀方式去除该硅体的该区域的不大于10nm的表面部分。

专利状态

基础信息

专利号
CN201710203509.X
申请日
2017-03-30
公开日
2021-01-08
公开号
CN107867671B
主分类号
/B/B81/ 作业;运输
标准类别
微观结构技术
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
有效专利

发明人

R·索玛彻尼 P·佩特鲁扎

申请人

意法半导体股份有限公司

申请人地址

意大利阿格拉布里安扎

专利摘要

公开了用于制造具有黑色表面的微电子器件的工艺和微电子器件。
一种用于制造黑硅表面的工艺,该工艺包括多个粗糙化循环,每个粗糙化循环包括:在硅体的区域上沉积非平面聚合物层;以及以非单向方式对该聚合物层和该硅体的该区域进行等离子体蚀刻,并以非均匀方式去除该硅体的该区域的不大于10nm的表面部分。

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