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专利摘要

本发明公开了一种解耦式双框架微陀螺,其包括:左驱动质量块组、右驱动质量块组、左哥氏质量块组和右哥氏质量块组,其均为一侧开口的半包围结构,且所述左驱动质量块组和右驱动质量块组的开口相对设置,所述左驱动质量块组和右驱动质量块组对称分布;所述左哥氏质量块组和右哥氏质量块组的开口相对设置;所述左哥氏质量块组和所述左驱动质量块组依次套设在左检测质量块的外围;所述右哥氏质量块组和所述右驱动质量块组依次套设在右检测质量块的外围。
本发明所述的解耦式双框架微陀螺实现了检测电容的差分放大,提高了该结构的灵敏度,抑制了微陀螺的机械耦合,提高了微陀螺的检测精度。

专利状态

基础信息

专利号
CN202010910335.2
申请日
2020-09-02
公开日
2020-12-18
公开号
CN112097751A
主分类号
/B/B81/ 作业;运输
标准类别
微观结构技术
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
审查中-实审

发明人

丁希聪 凌方舟 蒋乐跃 刘尧 刘海东 苏云鹏

申请人

美新半导体(天津)有限公司

申请人地址

300450 天津市滨海新区临港经济区临港怡湾广场3-208-01号、3-208-02号

专利摘要

本发明公开了一种解耦式双框架微陀螺,其包括:左驱动质量块组、右驱动质量块组、左哥氏质量块组和右哥氏质量块组,其均为一侧开口的半包围结构,且所述左驱动质量块组和右驱动质量块组的开口相对设置,所述左驱动质量块组和右驱动质量块组对称分布;所述左哥氏质量块组和右哥氏质量块组的开口相对设置;所述左哥氏质量块组和所述左驱动质量块组依次套设在左检测质量块的外围;所述右哥氏质量块组和所述右驱动质量块组依次套设在右检测质量块的外围。
本发明所述的解耦式双框架微陀螺实现了检测电容的差分放大,提高了该结构的灵敏度,抑制了微陀螺的机械耦合,提高了微陀螺的检测精度。

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