本发明公开了一种基于聚对二甲苯薄膜与带电颗粒的放电检测系统及方法。
本发明基于薄膜沉积技术实现在复杂、封闭、微小型电气电子系统内部、电气电子系统表面嵌入式沉积聚对二甲苯薄膜；微米级聚对二甲苯薄膜与电气电子系统共形，实现电气电子系统内部大面积、全方位、无死角覆盖；基于聚对二甲苯薄膜极性技术，结合带电颗粒的静电作用，实现对整个电气电子系统的放电检测与对系统内电气电子系统的放电精准定位，以及放电关键参数的计算；本发明提高了放电检测技术的通用性，解决了现有放电检测技术无法实现的复杂、封闭、微型系统内部放电的检测和准确定位；提高了放电检测技术的有效性和精度；提高了放电检测技术抗系统内部环境干扰的鲁棒性。

韩炎晖 冯跃 周子隆 饶泽泓 王运来

北京理工大学

100081 北京市海淀区中关村南大街5号

本发明公开了一种基于聚对二甲苯薄膜与带电颗粒的放电检测系统及方法。
本发明基于薄膜沉积技术实现在复杂、封闭、微小型电气电子系统内部、电气电子系统表面嵌入式沉积聚对二甲苯薄膜；微米级聚对二甲苯薄膜与电气电子系统共形，实现电气电子系统内部大面积、全方位、无死角覆盖；基于聚对二甲苯薄膜极性技术，结合带电颗粒的静电作用，实现对整个电气电子系统的放电检测与对系统内电气电子系统的放电精准定位，以及放电关键参数的计算；本发明提高了放电检测技术的通用性，解决了现有放电检测技术无法实现的复杂、封闭、微型系统内部放电的检测和准确定位；提高了放电检测技术的有效性和精度；提高了放电检测技术抗系统内部环境干扰的鲁棒性。