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专利摘要

本发明属于异质结制备技术领域,特别是涉及一种CdS/Si纳米薄膜异质结的制备方法,该方法首先以ITO导电薄膜为衬底,利用磁控溅射技术在ITO导电薄膜上沉积Si,制备纳米结构ITO/Si;然后利用磁控溅射技术在纳米结构ITO/Si上沉积CdS,制备纳米结构ITO/Si/CdS;最后利用磁控溅射技术在纳米结构ITO/Si/CdS上沉积Ag,制备纳米ITO/Si/CdS/Ag异质结。
本发明简单、高效,易于调控异质结各组分的结构和尺寸。

专利状态

基础信息

专利号
CN201911325196.0
申请日
2019-12-20
公开日
2020-04-07
公开号
CN110965025A
主分类号
/C/C23/ 化学;冶金
标准类别
对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
审查中-实审

发明人

姬鹏飞 李勇 宋月丽 周丰群 袁书卿 田明丽

申请人

平顶山学院

申请人地址

467000 河南省平顶山市新城区未来路南段

专利摘要

本发明属于异质结制备技术领域,特别是涉及一种CdS/Si纳米薄膜异质结的制备方法,该方法首先以ITO导电薄膜为衬底,利用磁控溅射技术在ITO导电薄膜上沉积Si,制备纳米结构ITO/Si;然后利用磁控溅射技术在纳米结构ITO/Si上沉积CdS,制备纳米结构ITO/Si/CdS;最后利用磁控溅射技术在纳米结构ITO/Si/CdS上沉积Ag,制备纳米ITO/Si/CdS/Ag异质结。
本发明简单、高效,易于调控异质结各组分的结构和尺寸。

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