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专利摘要

一种高性能晶圆级硫化铅近红外光敏薄膜及其制备方法,属于光电子器件领域。
首先,对选取基底材料的表面进行清洁处理。
其次,在高背景真空度下,将气化后的氧化剂引入真空蒸镀腔体,在洁净基底表面缓慢沉积PbS薄膜,获得颗粒适中、结构疏松、取向一致的微观结构。
最后,在一定温度和压强条件下,载气携带碘蒸汽敏化处理S2所述PbS薄膜,得高性能晶圆级PbS光敏薄膜。
本发明制备方法简单、制备成本低廉、重复性好,可实现晶圆级PbS光敏薄膜的制备,利于大规模商业化生产;制备PbS光敏薄膜光电探测率高,600K黑体室温峰值探测率>8×10

专利状态

基础信息

专利号
CN202010532605.0
申请日
2020-06-12
公开日
2021-07-06
公开号
CN111705297B
主分类号
/C/C23/ 化学;冶金
标准类别
对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
有效专利

发明人

邱继军 骆英民 边继明

申请人

大连理工大学

申请人地址

116024 辽宁省大连市甘井子区凌工路2号

专利摘要

一种高性能晶圆级硫化铅近红外光敏薄膜及其制备方法,属于光电子器件领域。
首先,对选取基底材料的表面进行清洁处理。
其次,在高背景真空度下,将气化后的氧化剂引入真空蒸镀腔体,在洁净基底表面缓慢沉积PbS薄膜,获得颗粒适中、结构疏松、取向一致的微观结构。
最后,在一定温度和压强条件下,载气携带碘蒸汽敏化处理S2所述PbS薄膜,得高性能晶圆级PbS光敏薄膜。
本发明制备方法简单、制备成本低廉、重复性好,可实现晶圆级PbS光敏薄膜的制备,利于大规模商业化生产;制备PbS光敏薄膜光电探测率高,600K黑体室温峰值探测率>8×10

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