1.本技术涉及显微镜的领域，尤其是涉及一种便于检测用显微镜对焦的调节结构。


背景技术：

2.显微镜是由一个透镜或几个透镜的组合构成的一种光学仪器，是人类进入原子时代的标志。他是一种用于放大微小物体成为人的肉眼所能看到的仪器。
3.公告号为cn207965343u的中国专利公开了一种食品微生物检测用显微镜，包括显微镜本体和收纳箱，显微镜本体的下端设置有支撑座和载物台，镜筒的上下端设置有目镜和物镜，且镜臂上固定设置有镜筒螺丝，且所述镜臂采用焊接的形式固定安装在支撑座上，本实用新型通过转动转动套可以实现载物台与反光碗之间的切换，此时可以将同批次样品分别放置在不同的载物台上，这样通过转动的形式可以快速的切换样品，从而节约检测时间，提高检测效率。
4.针对上述中的相关技术，发明人认为镜筒的高度固定，显微镜使用时会因为光线的充足性问题，使得操作人员难以准确对物体显微镜进行焦度的调节，故有待改善。


技术实现要素：

5.为了便于显微镜的焦度调节，本技术提供一种便于检测用显微镜对焦的调节结构。
6.本技术提供的一种便于检测用显微镜对焦的调节结构采用如下的技术方案：
7.一种便于检测用显微镜对焦的调节结构，包括设置于工作台上的支撑柱，所述支撑柱的侧壁处设置有支撑架，所述支撑架远离支撑柱的一端设置有显微设备；所述支撑柱沿其高度方向开设有滑动槽，所述支撑架包括滑动架与连接架，所述滑动架可沿滑动槽的长度方向滑移，所述连接架的一端与滑动架的侧壁连接，所述连接架的另一端与显微设备连接；所述支撑柱中设置有用于调节滑动架的高度的调节机构，所述调节机构包括调节杆与调节齿轮；所述滑动架中开设有供调节齿轮转动的调节槽，所述调节槽的内壁处设置有与调节齿轮配合的调节齿条；所述滑动架的侧壁沿滑动槽的长度方向开设有供调节杆滑动的让位槽。
8.通过采用上述技术方案，通过转动调节杆即可支撑架进行竖直方向的滑动，从而改变显微设备与物体之间的距离，在调节到适当的距离后即可对显微镜进行焦距的调节，从而减少了距离过长而不便于调节的焦度的现象，提升了焦距调节的便利性。
9.可选的，所述滑动架的下端设置有缓冲件，所述缓冲件包括缓冲弹簧，所述缓冲弹簧的一端与滑动架的下端连接，所述缓冲弹簧的另一端与滑动槽的底壁连接。
10.通过采用上述技术方案，滑动架在调节高度时，缓冲弹簧的弹力作用减少了因为滑动移动过快从而产生的晃动，从而减少了显微设备的晃动现象，提升了显微设备的稳定性。
11.可选的，所述缓冲件还包括设置于滑动架下端的第一连接板与设置于滑动槽底壁
处的第二连接板，所述缓冲弹簧的一端与第一连接板的表面连接，所述缓冲弹簧的另一端与第二连接板的表面连接，所述第一连接板的表面沿其厚度方向穿设有固定螺栓，所述固定螺栓与滑动架螺纹连接；所述第二连接板的表面穿设有固定螺栓，所述固定螺栓与滑动槽的底壁螺纹连接。
12.通过采用上述技术方案，转动第一连接板上的固定螺栓，即可将第一连接板从滑移架中取出，转动第二连接板上的固定螺栓，即可将第二连接板从滑移槽的底壁上取下，从而方便后续对缓冲件的更换。
13.可选的，所述调节杆的一端设置有握持旋钮，所述调节杆的另一端设置有与调节杆转动连接的抵接块，所述握持旋钮的直径大于调节杆的直径。
14.通过采用上述技术方案，握持旋钮的直径大于调节杆的直径，调节滑动架的高度时，可有效提升定位架的高度的定位精准性。
15.可选的，所述握持旋钮的外壁处设置有防滑垫。
16.通过采用上述技术方案，防滑垫的设置提升了操作人员手部与握持旋钮之间的静摩擦系数，从而减少了操作人员转动握持旋钮时滑动的现象的发生。
17.可选的，所述支撑柱的外壁处设置有旋钮保护罩，所述旋钮保护罩包括连接环板与保护盖板，所述连接环板的一端与支撑柱的外壁连接，所述连接环板沿握持旋钮的外壁周向设置，所述保护盖板设置于连接环板远离支撑杆的一端，所述保护盖板与连接环板之间转动连接。
18.通过采用上述技术方案，在调节过握持旋钮后，可将转动保护盖板，从而将握持旋钮与外界进行隔离，以减少操作人员在后续使用显微设备时对握持旋钮的误触，使得滑动架晃动的现象的发生。
19.可选的，所述保护盖板与连接环板连接的一端开设有辅助槽，所述辅助槽的内壁处设置有弹性连接片，所述连接环板的侧壁沿其厚度方向开设有供弹性连接片插设卡接的连接卡槽。
20.通过采用上述技术方案，将保护盖板盖合后，弹性连接片卡接于连接卡槽中，从而使得连接环板与保护盖板之间的连接更加稳定。
21.可选的，所述弹性连接片的侧壁处设置有磁性件，所述连接卡槽的侧壁处设置有与磁性件磁性相吸的吸附件。
22.通过采用上述技术方案，弹性卡接槽在卡接于连接卡槽中后，磁性件与吸附件相互吸引贴合，进一步提升了旋钮保护罩的稳定性。
23.综上所述，本技术包括以下至少一种有益技术效果：
24.1.转动调节杆即可对滑动架沿支撑柱的高度方向进行调节，从而可以方便地改变显微设备与物体之间的距离，以便后续对显微设备的高度的调节；
25.2.滑移架的下端设置有缓冲件，从而可以有效减少滑移架的晃动的现象，提升了滑移架的稳定性。
附图说明
26.图1是本技术实施例一种便于检测用显微镜对焦的调节结构的整体示意图。
27.图2是本技术实施例主要体现支撑柱与调节件之间连接关系的剖视图。
28.图3是本技术实施例主要体现旋钮保护罩与支撑柱之间位置关系的局部示意图。
29.图4是本技术实施例主要体现缓冲件与支撑柱之间位置关系的局部示意图。
30.附图标记说明：1、工作台；11、载物台；12、支撑柱；121、滑动槽；2、支撑架；21、滑动架；211、调节槽；212、让位槽；213、调节齿条；22、连接架；3、显微设备；4、调节机构；41、调节齿轮；42、调节杆；421、握持旋钮；4211、防滑垫；422、抵接块；5、旋钮保护罩；51、连接环板；512、连接卡槽；5121、吸附件；52、保护盖板；521；辅助槽；522、弹性连接片；5221、磁性件；6、缓冲件；61、第一连接板；62、第二连接板；63、缓冲弹簧；64、固定螺栓。
具体实施方式
31.以下结合附图1-4对本技术作进一步详细说明。
32.本技术实施例公开一种便于检测用显微镜对焦的调节结构。参照图1，一种便于检测用显微镜对焦的调节结构包括工作台1，工作台1的表面焊接固定有载物台11，工作台1的上表面的上方焊接固定有支撑柱12，支撑柱12的侧壁安装有支撑架2，支撑架2的远离支撑柱12的一端焊接固定有显微设备3。
33.参照图1，支撑架2包括滑动架21与连接架22，连接架22的一端与显微设备3焊接固定，连接架22的另一端与滑动架21的侧壁焊接固定，支撑柱12沿竖直方向开设有供滑动架滑动的滑动槽121，滑动架21可沿滑动槽121的长度方向滑移。
34.参照图1与图2，支撑柱12中设置有调节机构4，调节机构4包括调节齿轮41与调节杆42，支撑架2中沿其长度方向开设有调节齿轮41转动的调节槽211，调节槽211的内壁处焊接设置有与调节齿轮41配合的调节齿条213。
35.参照图2，调节杆42沿调节齿轮41的厚度方向共同贯穿于支撑柱12的侧壁、滑动架21的侧壁与调节齿轮41，且调节杆42穿设于调节齿轮41的中心轴处并与调节齿轮41焊接固定；调节杆42的一端连接有抵接块422，调节杆42与抵接块422通过轴承转动连接，抵接块422的侧壁与支撑柱12的侧壁相互贴合，且抵接块422焊接于支撑柱12的侧壁处；调节杆42的另一端焊接固定有握持旋钮421，本技术实施例中，握持旋钮421的直径大于调节杆42的直径，从而在调节显微设备3的高度时，提升了调节的准确性。
36.参照图2，握持旋钮421的外侧壁处通过胶水粘贴固定有防滑垫4211，本技术实施例中，防滑垫4211为橡胶垫，防滑垫4211有效提升了握持旋钮421外壁处的静摩擦力，从而提升了操作人员使用握持旋钮421时的便利性。
37.参照图3，支撑柱12的外壁安装有旋钮保护罩5，旋钮保护罩5包括连接环板51与保护盖板52；连接环板51沿握持旋钮421的外壁一周周向设置，连接环板51远离保护盖板52的一端与支撑柱12的表面螺纹连接。
38.参照图3，保护盖板52的侧壁与连接环板51远离支撑柱12的一端通过转动轴转动连接，保护盖板52与连接环板51贴合的一端开设有辅助槽521，辅助槽521的底壁处一体形成有弹性连接片522，连接环板51的侧壁处贯穿开设有供弹性连接片522配合的连接卡槽512，转动保护盖板52后，弹性连接片522插设于连接卡槽512的内壁处，从而提升了旋钮保护罩5的稳定性。
39.参照图3，弹性连接片522的侧壁处嵌置有磁性件5221，连接卡槽512的内壁处嵌置有与磁性件5221磁性相吸的吸附件5121，弹性连接片522卡接于连接卡槽512中时，磁性件
5221与吸附件5121通过磁性作用力相互吸引贴合，从而提升了保护盖板52与连接环板51连接时的稳定性。
40.参照图4，支撑架2的底端安装有第一连接板61，第一连接板61的表面沿其厚度方向穿设有固定螺栓64；滑动槽121的底壁处贴合有第二连接板62，第二连接板62的表面沿其厚度方向穿设有固定螺栓64，固定螺栓64与滑动槽121的底壁螺纹连接；第一连接板61与第二连接板62之间安装有缓冲弹簧63，缓冲弹簧63的一端与第一连接板61的表面焊接固定，缓冲弹簧63的另一端与第二连接板62的表面焊接固定。
41.本技术实施例一种便于检测用显微镜对焦的调节结构的实施原理为：调节显微设备3的高度时，按动弹性连接片522，随后转动保护盖板52，再转动握持旋钮421，调节齿轮41带动支撑架2沿滑动槽121的长度方向滑动，从而调节支撑架2与载物台11之间的距离，以便快速对焦，有效提升了显微设备3对焦时的便利性。
42.以上均为本技术的较佳实施例，并非依此限制本技术的保护范围，故：凡依本技术的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本技术的保护范围之内。