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专利摘要

一种谐振式MEMS差压压力传感器及其制备方法,所述制备方法包括如下步骤:对硅片进行双面刻蚀,形成谐振子层;将硅层与玻璃层阳极键合,刻蚀玻璃层,形成图案化玻璃组合体;将谐振子层的一面与一所述图案化玻璃组合体的玻璃面对准阳极键合;在谐振子层上形成谐振子;在谐振子层上形成测温pn结;将谐振子层的另一面与另一所述图案化玻璃组合体的玻璃面对准阳极键合,形成双面键合组合体;对双面键合组合体进行双面刻蚀,在两个硅层上分别形成感压膜;将两个硅面分别与玻璃保护盖板对准阳极键合;双面淀积金属。
该制备方法与CMOS工艺兼容,可以大批量制造,在工业自动化控制、航空航天、机器人、气象、环境等领域拥有广泛应用前景。

专利状态

基础信息

专利号
CN202010482344.6
申请日
2020-05-29
公开日
2020-08-25
公开号
CN111579147A
主分类号
/B/B81/ 作业;运输
标准类别
微观结构技术
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
审查中-实审

发明人

张明亮 王晓东 杨富华

申请人

中国科学院半导体研究所

申请人地址

100083 北京市海淀区清华东路甲35号

专利摘要

一种谐振式MEMS差压压力传感器及其制备方法,所述制备方法包括如下步骤:对硅片进行双面刻蚀,形成谐振子层;将硅层与玻璃层阳极键合,刻蚀玻璃层,形成图案化玻璃组合体;将谐振子层的一面与一所述图案化玻璃组合体的玻璃面对准阳极键合;在谐振子层上形成谐振子;在谐振子层上形成测温pn结;将谐振子层的另一面与另一所述图案化玻璃组合体的玻璃面对准阳极键合,形成双面键合组合体;对双面键合组合体进行双面刻蚀,在两个硅层上分别形成感压膜;将两个硅面分别与玻璃保护盖板对准阳极键合;双面淀积金属。
该制备方法与CMOS工艺兼容,可以大批量制造,在工业自动化控制、航空航天、机器人、气象、环境等领域拥有广泛应用前景。

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