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专利摘要

本发明属于场效应晶体管领域,具体涉及一种亚纳米顶栅电极场效应晶体管的可控制备方法,包括以下步骤:在金属纳米颗粒二聚体表面转移隔离层;在隔离层覆盖吸收层和透光层;利用脉冲激光垂直照射透光层;得到亚十纳米沟道的金属电极;将二维材料和高k栅介质材料转移到金属电极;将基片沉积的金属层和二维材料层转移到柔性衬底;将柔性衬底切成小块;将柔性衬底小块用柔性高分子材料包裹,切成薄片;将薄片转移到高k栅介质材料,留下的金属作为亚纳米顶栅电极。
本发明的方法操作简单,能突破传统曝光技术的限制,打破制造亚十纳米沟道的技术壁垒,降低晶体管的生产成本,提高晶体管的性能,为推动超短沟道场效应晶体管的发展提供了一条新的道路。

专利状态

基础信息

专利号
CN202010481838.2
申请日
2020-05-28
公开日
2020-09-04
公开号
CN111628001A
主分类号
/B/B81/ 作业;运输
标准类别
微观结构技术
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
发明公开

发明人

胡耀武 黄正 何亚丽

申请人

武汉大学

申请人地址

430072 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学

专利摘要

本发明属于场效应晶体管领域,具体涉及一种亚纳米顶栅电极场效应晶体管的可控制备方法,包括以下步骤:在金属纳米颗粒二聚体表面转移隔离层;在隔离层覆盖吸收层和透光层;利用脉冲激光垂直照射透光层;得到亚十纳米沟道的金属电极;将二维材料和高k栅介质材料转移到金属电极;将基片沉积的金属层和二维材料层转移到柔性衬底;将柔性衬底切成小块;将柔性衬底小块用柔性高分子材料包裹,切成薄片;将薄片转移到高k栅介质材料,留下的金属作为亚纳米顶栅电极。
本发明的方法操作简单,能突破传统曝光技术的限制,打破制造亚十纳米沟道的技术壁垒,降低晶体管的生产成本,提高晶体管的性能,为推动超短沟道场效应晶体管的发展提供了一条新的道路。

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