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专利摘要

本发明公开了一种MEMS器件的制造方法及MEMS器件,涉及微电子机械系统技术领域,用于在制造具有悬空结构的MEMS器件时提高刻蚀图形的尺寸精度,提升MEMS器件的品质。
所述MEMS器件的制造方法包括:提供一基底,基底上形成有第一牺牲层;去除第一牺牲层位于预定区域内的部分,形成凹槽;预定区域为悬空结构与基底之间的区域;在凹槽内形成第二牺牲层,第二牺牲层的上表面与第一牺牲层的上表面平齐,第二牺牲层的致密性低于第一牺牲层的致密性;在第一牺牲层和第二牺牲层上形成悬空结构层,悬空结构层包括位于第一牺牲层上的支撑结构、以及位于第二牺牲层上的悬空结构;去除第二牺牲层,释放悬空结构。
所述MEMS器件的制造方法用于制造具有悬空结构的MEMS器件。

专利状态

基础信息

专利号
CN202011033887.6
申请日
2020-09-27
公开日
2020-12-29
公开号
CN112141999A
主分类号
/B/B81/ 作业;运输
标准类别
微观结构技术
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
审查中-实审

发明人

徐家艳 彭四伟

申请人

地球山(北京)科技有限公司

申请人地址

100102 北京市朝阳区利泽中一路1号9层办公A902

专利摘要

本发明公开了一种MEMS器件的制造方法及MEMS器件,涉及微电子机械系统技术领域,用于在制造具有悬空结构的MEMS器件时提高刻蚀图形的尺寸精度,提升MEMS器件的品质。
所述MEMS器件的制造方法包括:提供一基底,基底上形成有第一牺牲层;去除第一牺牲层位于预定区域内的部分,形成凹槽;预定区域为悬空结构与基底之间的区域;在凹槽内形成第二牺牲层,第二牺牲层的上表面与第一牺牲层的上表面平齐,第二牺牲层的致密性低于第一牺牲层的致密性;在第一牺牲层和第二牺牲层上形成悬空结构层,悬空结构层包括位于第一牺牲层上的支撑结构、以及位于第二牺牲层上的悬空结构;去除第二牺牲层,释放悬空结构。
所述MEMS器件的制造方法用于制造具有悬空结构的MEMS器件。

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