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专利摘要

本发明公开一种用于半导体晶片加工的研磨液,涉及硬脆材料研磨抛光加工技术领域。
本发明公开的用于半导体晶片加工的研磨液,由以下重量百分比的组分组成:固体磨料20~30%,增稠剂10~20%,分散剂3~10%,润湿剂3~10%,润滑剂3~10%,偶联剂10~30%,消泡剂1~3%,溶剂10~50%和余量为去离子水。
本发明提供的研磨液悬浮性能稳定,加工过程中研磨剂不易沉底,可重复循环使用多次;流动性良好,不会出现结块现象,避免堵塞输液管道;表面润湿性和分散性俱佳,加工过程中研磨液分布均匀,避免加工界面产生划伤,提高加工良品率;易清洗,避免为后续加工过程引入杂质,同时,相同条件下的研磨去除率高,提高加工效率。

专利状态

基础信息

专利号
CN202010907777.1
申请日
2020-09-02
公开日
2020-12-04
公开号
CN112029416A
主分类号
/C/C09/ 化学;冶金
标准类别
染料;涂料;抛光剂;天然树脂;黏合剂;其他类目不包含的组合物;其他类目不包含的材料的应用
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
审查中-实审

发明人

祁有丽 南振华

申请人

中科孚迪科技发展有限公司

申请人地址

410500 湖南省岳阳市湘阴县金龙新区卓达金谷创业园12号

专利摘要

本发明公开一种用于半导体晶片加工的研磨液,涉及硬脆材料研磨抛光加工技术领域。
本发明公开的用于半导体晶片加工的研磨液,由以下重量百分比的组分组成:固体磨料20~30%,增稠剂10~20%,分散剂3~10%,润湿剂3~10%,润滑剂3~10%,偶联剂10~30%,消泡剂1~3%,溶剂10~50%和余量为去离子水。
本发明提供的研磨液悬浮性能稳定,加工过程中研磨剂不易沉底,可重复循环使用多次;流动性良好,不会出现结块现象,避免堵塞输液管道;表面润湿性和分散性俱佳,加工过程中研磨液分布均匀,避免加工界面产生划伤,提高加工良品率;易清洗,避免为后续加工过程引入杂质,同时,相同条件下的研磨去除率高,提高加工效率。

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