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专利摘要

本实用新型公开了一种高精度MEMS传感器封装基板,包括陶瓷基板和减应力装置,所述陶瓷基板上方设置有掩蔽薄片,且掩蔽薄片下方连接有聚合物薄片,所述陶瓷基板内部安置有传感器芯片,且传感器芯片下方固定有焊盘,所述焊盘下方连接有扩散阻挡层,且扩散阻挡层下表面设置有浸润层,所述减应力装置安置于焊盘下方,所述陶瓷基板内部设置有专用集成电路。
该高精度MEMS传感器封装基板安装有铜弹性圈,铜弹性圈与第一焊点之间构成焊接一体化结构,增加了铜弹性圈与第一焊点之间的稳定性和连通性,保证了芯片的正常运作,而铜弹性圈呈弹性结构,有利于减少芯片和陶瓷基板之间的膨胀系数,使得芯片的应力下降,从而提高了芯片的输出性能。

专利状态

基础信息

专利号
CN202020924616.9
申请日
2020-05-28
公开日
2021-02-02
公开号
CN212450613U
主分类号
/B/B81/ 作业;运输
标准类别
微观结构技术
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
有效专利

发明人

岳长来 朱圣峰

申请人

深圳和美精艺半导体科技股份有限公司

申请人地址

518000 广东省深圳市龙岗区坪地街道四方埔社区牛眠岭新村26号二楼

专利摘要

本实用新型公开了一种高精度MEMS传感器封装基板,包括陶瓷基板和减应力装置,所述陶瓷基板上方设置有掩蔽薄片,且掩蔽薄片下方连接有聚合物薄片,所述陶瓷基板内部安置有传感器芯片,且传感器芯片下方固定有焊盘,所述焊盘下方连接有扩散阻挡层,且扩散阻挡层下表面设置有浸润层,所述减应力装置安置于焊盘下方,所述陶瓷基板内部设置有专用集成电路。
该高精度MEMS传感器封装基板安装有铜弹性圈,铜弹性圈与第一焊点之间构成焊接一体化结构,增加了铜弹性圈与第一焊点之间的稳定性和连通性,保证了芯片的正常运作,而铜弹性圈呈弹性结构,有利于减少芯片和陶瓷基板之间的膨胀系数,使得芯片的应力下降,从而提高了芯片的输出性能。

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