目录

专利摘要

本发明涉及一种多传感器的协同制造工艺流程,其具体制备工艺流程如下:S1、采用SOI圆片作为MEMS传感器层,SOI顶层硅为n型掺杂;S2、进行两次正面离子注入;S3、对SOI圆片的正反面进行沉积形成钝化层薄膜;S4、将SOI圆片的正面进行溅射电极和引线;S5、对SOI圆片进行器件层刻蚀;S6、对SOI圆片进行衬底层刻蚀;S7、对SOI圆片的埋氧层进行刻蚀;S8、对MEMS于CMOS三位集成;本发明具有协同效果好、制造简便的优点。

专利状态

基础信息

专利号
CN201810774509.X
申请日
2018-07-13
公开日
2021-07-06
公开号
CN108862186B
主分类号
/B/B81/ 作业;运输
标准类别
微观结构技术
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
有效专利

发明人

赵敏

申请人

河南汇纳科技有限公司

申请人地址

450000 河南省郑州市航空港区四港联动大道与省道S102交汇处西南郑州台湾科技园A-1楼5单元101号标准厂房

专利摘要

本发明涉及一种多传感器的协同制造工艺流程,其具体制备工艺流程如下:S1、采用SOI圆片作为MEMS传感器层,SOI顶层硅为n型掺杂;S2、进行两次正面离子注入;S3、对SOI圆片的正反面进行沉积形成钝化层薄膜;S4、将SOI圆片的正面进行溅射电极和引线;S5、对SOI圆片进行器件层刻蚀;S6、对SOI圆片进行衬底层刻蚀;S7、对SOI圆片的埋氧层进行刻蚀;S8、对MEMS于CMOS三位集成;本发明具有协同效果好、制造简便的优点。

相似专利技术