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专利摘要

本发明属于晶体生长技术领域,提供了一种晶体与晶体托的分离方法,其特征在于,将需要分离的晶体及与其固定的晶体托放入高温氧化炉中,向所述高温氧化炉中通入含氧气体,进行碳氧化反应,即可将晶体与晶体托分离。
本申请提供的晶体与晶体托的分离方法,利用高温将固态石墨氧化为气态的二氧化碳,从而成功分离生长后的晶体和石墨。
本申请的晶体与晶体托的分离方法简单易行,成本低。
采用非机械方法分离晶体与晶体托,减少了传统方法所带来的风险。
本申请的分离方法对晶体自身无损,简单有效。

专利状态

基础信息

专利号
CN202010574084.5
申请日
2020-06-22
公开日
2021-05-25
公开号
CN111690986B
主分类号
/C/C30/ 化学;冶金
标准类别
晶体生长
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
有效专利

发明人

刘欣宇 袁振洲

申请人

江苏超芯星半导体有限公司

申请人地址

225000 江苏省扬州市仪征市经济开发区闽泰大道9号A5栋

专利摘要

本发明属于晶体生长技术领域,提供了一种晶体与晶体托的分离方法,其特征在于,将需要分离的晶体及与其固定的晶体托放入高温氧化炉中,向所述高温氧化炉中通入含氧气体,进行碳氧化反应,即可将晶体与晶体托分离。
本申请提供的晶体与晶体托的分离方法,利用高温将固态石墨氧化为气态的二氧化碳,从而成功分离生长后的晶体和石墨。
本申请的晶体与晶体托的分离方法简单易行,成本低。
采用非机械方法分离晶体与晶体托,减少了传统方法所带来的风险。
本申请的分离方法对晶体自身无损,简单有效。

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