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专利摘要

本发明涉及一种封装方法,尤其是一种晶圆级气密封装方法,属于MEMS器件封装的技术领域。
按照本发明提供的技术方案,所述晶圆级气密封装方法,所述气密封装方法包括如下步骤:步骤1、提供待键合的第一晶圆体以及第二晶圆体,并在第一晶圆体上旋涂均匀分布的陶瓷前驱体溶液,以利用所述陶瓷前驱体溶液得到覆盖于第一晶圆体上的键合膜层;步骤2、将上述第一晶圆体、第二晶圆体利用键合机进行真空键合,第二晶圆体通过键合膜层与第一晶圆体键合固定,以使得第二晶圆体与第一晶圆体气密封装连接。
本发明能有效实现晶圆间的低温键合,键合的封装器件能满足高温工艺要求,保证MEMS真空封装器件的气密性和稳定性。

专利状态

基础信息

专利号
CN201810695397.9
申请日
2018-06-29
公开日
2018-11-16
公开号
CN108821232A
主分类号
/B/B81/ 作业;运输
标准类别
微观结构技术
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
发明公开

发明人

冒薇 王丰梅 段仲伟 李瑾 马冬月 赵书平 姚园 许爱玲

申请人

苏州研材微纳科技有限公司 苏州美图半导体技术有限公司

申请人地址

215121 江苏省苏州市工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城西北区11幢401室

专利摘要

本发明涉及一种封装方法,尤其是一种晶圆级气密封装方法,属于MEMS器件封装的技术领域。
按照本发明提供的技术方案,所述晶圆级气密封装方法,所述气密封装方法包括如下步骤:步骤1、提供待键合的第一晶圆体以及第二晶圆体,并在第一晶圆体上旋涂均匀分布的陶瓷前驱体溶液,以利用所述陶瓷前驱体溶液得到覆盖于第一晶圆体上的键合膜层;步骤2、将上述第一晶圆体、第二晶圆体利用键合机进行真空键合,第二晶圆体通过键合膜层与第一晶圆体键合固定,以使得第二晶圆体与第一晶圆体气密封装连接。
本发明能有效实现晶圆间的低温键合,键合的封装器件能满足高温工艺要求,保证MEMS真空封装器件的气密性和稳定性。

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